画像測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：吉田研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-004892
公開番号（公開出願番号）：特開平11-203485
出願日： 1998年01月13日
公開日（公表日）： 1999年07月30日
要約：

【要約】【課題】パートプログラムを用いた画像測定装置において、オペレータの操作負担を軽減し、効率的に画像測定を行う。【解決手段】教示により作成されたパートプログラムはパートプログラムベース100に記憶され、パートプログラムエンジン102がこれを読み出して実行する。パートプログラムエンジン102は、パートプログラムをイメージ処理部104及び命令実行処理部106に供給する。イメージ処理部104は、パートプログラムの内、イメージ処理(画面内のエッジ抽出を一括して実行し、測定・データベース108に格納する。命令実行処理部106は、エッジデータを用いて画面内の演算処理を一括して実行する測定部位ごとに交互にエッジ抽出と演算処理を行うのではなく、画面内の全ての測定部位に対して一括してエッジ検出を行い、その後演算処理を実行することで、オペレータの操作負担が軽減される。

請求項（抜粋）：

測定対象を載置するステージと、このステージに載置された測定対象を撮像する撮像手段と、この撮像手段で撮像された画像を表示する表示手段と、前記測定対象に対する前記撮像手段の撮像位置を変化させるための位置調整用操作手段と、を有する画像測定装置において、測定手順をプログラムとして記憶する記憶手段と、前記プログラムに従い、測定すべき目標位置を指示する位置指示手段と、前記プログラムに従い、画像内の全ての測定対象に測定用ツールを割り当て、画像内の全ての測定対象のエッジを一括して検出する第1処理手段と、検出されたエッジに基づいて所定の演算を一括して実行する第2処理手段と、を有することを特徴とする画像測定装置。

IPC (3件)：

G06T 9/20 , G01B 21/00 , G06T 1/00

FI (3件)：

G06F 15/70 335 Z , G01B 21/00 G , G06F 15/62 380

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開昭60-122304
特開昭63-222205
特開昭60-122304

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