特許
J-GLOBAL ID:200903024373834817
半導体装置及びその製造方法並びに電気光学装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-044984
公開番号(公開出願番号):特開2000-243834
出願日: 1999年02月23日
公開日(公表日): 2000年09月08日
要約:
【要約】【課題】 半導体装置の製造において、層間絶縁膜の加工を簡略化し、安価で耐環境性に優れた製造方法を提供する。【解決手段】 下層配線60上に感光性ポリシラザンを塗布し、露光・現像で開口した後に酸化シリコンに変性させ、平坦性、耐ヒロック性に優れた厚い層間絶縁膜22を安価に提供する。また、開口に通常のエッチング・剥離が不要であるため、環境へのダメージが少ない。
請求項(抜粋):
基板上に複数の絶縁膜と複数の配線層とを有してなる半導体装置の製造方法において、複数の前記配線層のうちの第一の配線層上にポリシラザン膜を形成する工程と、前記ポリシラザン膜に開口部を設ける工程と、前記開口部が形成されたポリシラザン膜をシリコン酸化膜を主成分とする絶縁膜にする工程とを少なくとも有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (5件):
H01L 21/768
, G02F 1/1333 505
, G02F 1/136 500
, H01L 21/316
, H01L 29/786
FI (5件):
H01L 21/90 K
, G02F 1/1333 505
, G02F 1/136 500
, H01L 21/316 G
, H01L 29/78 619 A
Fターム (108件):
2H090HA04
, 2H090HA05
, 2H090HA08
, 2H090HB03X
, 2H090HB12X
, 2H090HC05
, 2H090HC09
, 2H090HC10
, 2H090HD03
, 2H090LA01
, 2H090LA04
, 2H092JA25
, 2H092JA40
, 2H092JA44
, 2H092JA46
, 2H092JA47
, 2H092JB24
, 2H092JB58
, 2H092KA12
, 2H092KA24
, 2H092KB04
, 2H092KB22
, 2H092KB25
, 2H092MA05
, 2H092MA07
, 2H092MA15
, 2H092MA25
, 2H092NA19
, 2H092NA28
, 2H092PA12
, 5F033HH07
, 5F033HH08
, 5F033HH18
, 5F033HH20
, 5F033HH21
, 5F033HH38
, 5F033JJ01
, 5F033JJ07
, 5F033JJ08
, 5F033JJ18
, 5F033JJ20
, 5F033JJ21
, 5F033JJ38
, 5F033KK08
, 5F033KK18
, 5F033MM05
, 5F033NN03
, 5F033PP15
, 5F033QQ09
, 5F033QQ20
, 5F033QQ37
, 5F033QQ74
, 5F033QQ76
, 5F033RR27
, 5F033SS22
, 5F033SS27
, 5F033VV04
, 5F033VV06
, 5F033VV15
, 5F033XX33
, 5F058AA05
, 5F058AA06
, 5F058AC03
, 5F058AC07
, 5F058AF04
, 5F058AG01
, 5F058AG10
, 5F058AH01
, 5F058AH02
, 5F110AA16
, 5F110BB02
, 5F110CC02
, 5F110DD02
, 5F110DD03
, 5F110DD11
, 5F110EE02
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE14
, 5F110EE44
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF10
, 5F110FF30
, 5F110GG02
, 5F110GG24
, 5F110GG44
, 5F110GG45
, 5F110GG47
, 5F110HJ01
, 5F110HJ04
, 5F110HJ13
, 5F110HJ23
, 5F110HL03
, 5F110HL04
, 5F110HL11
, 5F110HL23
, 5F110NN02
, 5F110NN04
, 5F110NN23
, 5F110NN27
, 5F110NN36
, 5F110NN40
, 5F110PP03
, 5F110PP10
, 5F110QQ05
, 5F110QQ10
引用特許: