特許

J-GLOBAL ID：200903024394057730

試料の異常測定方法、および装置

発明者： 足立 忠晴 ,  荒木 稚子 ,  上小澤 孝弘 ,  満丸 道敏 ,  小宮 廣志
出願人/特許権者： 国立大学法人東京工業大学 ,  株式会社ジェイテクト
代理人 (5件)： 小林 久夫 ,  安島 清 ,  佐々木 宗治 ,  大村 昇 ,  高梨 範夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-233009
公開番号（公開出願番号）：特開2009-063498
出願日： 2007年09月07日
公開日（公表日）： 2009年03月26日
要約：

【課題】短時間で試料の異常を測定する方法およびその装置を提供する。【解決手段】試料の異常を測定する方法であって、標準試料の共振周波数と前記異常との相関関係をあらかじめ測定しておき、前記試料の共振周波数を測定する第1ステップと、前記第1ステップで測定した共振周波数および前記相関関係に基づき前記試料の異常を測定する第2ステップと、を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

試料の異常を測定する方法であって、 標準試料の共振周波数と前記異常との相関関係をあらかじめ測定しておき、 前記試料の共振周波数を測定する第1ステップと、 前記第1ステップで測定した共振周波数および前記相関関係に基づき前記試料の異常を測定する第2ステップと、 を有することを特徴とする試料の異常測定方法。

IPC (3件)：

G01L 1/00 ,  G01N 29/00 ,  G01N 29/24

FI (3件)：

G01L1/00 C ,  G01N29/18 ,  G01N29/24

Fターム (20件)：

2G047AB01 ,  2G047AC08 ,  2G047AD16 ,  2G047AD19 ,  2G047BA04 ,  2G047BC02 ,  2G047BC04 ,  2G047BC20 ,  2G047CA01 ,  2G047EA09 ,  2G047EA12 ,  2G047GA02 ,  2G047GB01 ,  2G047GB12 ,  2G047GB16 ,  2G047GF05 ,  2G047GF11 ,  2G047GG20 ,  2G047GG33 ,  2G047GG36

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線応力測定方法およびX線応力測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-009264   出願人：松下電器産業株式会社