特許

J-GLOBAL ID：200903024402760801

テストモード設定回路

発明者： 倉石 栄一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-304114
公開番号（公開出願番号）：特開平9-145803
出願日： 1995年11月22日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：

【要約】【課題】 テストモードを設定するための専用端子を持つことなく、テストモード設定を行うことが可能なテストモード設定回路をを提供することを目的とする。【解決手段】 LSIの通常外部入力端子10と共用したテストモード設定用端子をリセット信号により制御を行う制御回路11と、シフトレジスタにより構成されて、前記制御回路11によるテストモード設定用端子からの信号をテストモード設定信号にシフトするテストモード設定信号発生部12と、前記リセット信号によりラッチするラッチ回路13と、このラッチ回路13で保持しているテストモード設定信号をデコードするデコード部14とを備えた。

請求項（抜粋）：

LSIの通常外部入力端子と共用したテストモード設定用端子をリセット信号により制御を行う制御回路と、シフトレジスタにより構成されて、前記制御回路によるテストモード設定用端子からの信号をテストモード設定信号にシフトするテストモード設定信号発生部と、前記リセット信号によりラッチするラッチ回路と、このラッチ回路で保持しているテストモード設定信号をデコードするデコード部とを備えたことを特徴とするテストモード設定回路。

IPC (2件)：

G01R 31/3185 ,  G01R 31/28

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭62-265737
  
• 特開平3-015776
  
• 半導体集積回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-319891   出願人：日産自動車株式会社
• 集積回路のテスト回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-077318   出願人：三洋電機株式会社