集積回路のテスト回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岡田敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-077318
公開番号（公開出願番号）：特開平7-287050
出願日： 1994年04月15日
公開日（公表日）： 1995年10月31日
要約：

【要約】【目的】集積回路内部の各機能ブロックをテストする際に入出力端子を有効に使用することのできる集積回路のテスト回路を提供することを目的とする。【構成】 Dフリップフロップ7が集積回路の為の電源の投入からリセット解除の指示を受けるまでの間、出力端子1-0,・・・・1-nを複数の機能ブロック10-1,・・・・10-mの中からテストすべき機能ブロックを選択する為のデータ入力として使用し、前記Dフリップフロップ7が前記リセット解除の指示を受けた後、出力端子1-0,・・・・1-nをテストモード及び通常モードにおけるデータ出力として使用する様にした。これにより、選択された機能ブロックをテストする時、出力端子1-0,・・・・1-nを有効に使用できる。

請求項（抜粋）：

データを出力する出力端子を、複数の機能ブロックの中からテストすべき機能ブロックを選択する為のテストデータを入力する入力端子として使用する集積回路のテスト回路において、前記出力端子から前記データを出力させる第1ゲート手段と、前記出力端子から前記テストデータを前記集積回路内部に入力させる第2ゲート手段と、電源の投入からリセット解除の指示を受けるまでの間、前記第1ゲート手段の動作を停止させると共に前記第2ゲート手段を動作させて前記テストデータを出力可能とし、且つ、前記リセット解除の指示を受けた後、前記第1ゲート手段を動作させて前記データを出力可能とすると共に前記第2ゲート手段の動作を停止させるゲート制御信号を発生するゲート制御信号発生手段と、前記リセット解除の指示を受けた時、ラッチ信号を発生するラッチ信号発生手段と、前記第2ゲート手段の出力を前記ラッチ信号の発生タイミングでラッチするラッチ手段と、前記ラッチ手段の出力を解読し、前記複数の機能ブロックの中から何れか1つの機能ブロックを選択する為の解読信号を発生するデコード手段と、を備え、前記ゲート制御信号発生手段が前記電源の投入から前記リセット解除の指示を受けるまでの間、前記出力端子を前記複数の機能ブロックの中からテストすべき機能ブロックを選択する為のデータ入力として使用し、前記ゲート制御信号発生手段が前記リセット解除の指示を受けた後、前記出力端子をテストモード及び通常モードにおけるデータ出力として使用する様にしたことを特徴とする集積回路のテスト回路。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G06F 11/22 330

引用特許：

審査官引用 (4件)

テスト回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-243267 出願人：三洋電機株式会社
半導体集積回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-186547 出願人：日本電気株式会社
特開平4-237339

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