特許

J-GLOBAL ID：200903024471726267

表面欠陥探傷装置及び蛍光磁粉探傷方法

発明者： 赤松 勝 ,  和佐 泰宏 ,  小川 岳夫 ,  勝見 栄雄 ,  鈴木 紀生 ,  田中 浩信 ,  七瀬谷 則吉 ,  海田 浩明 ,  熊谷 克俊
出願人/特許権者： 株式会社神戸製鋼所
代理人 (1件)： 本庄 武男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-023328
公開番号（公開出願番号）：特開平11-223610
出願日： 1998年02月04日
公開日（公表日）： 1999年08月17日
要約：

【要約】【課題】 例えば所定方向に搬送される鋼材表面に線状に形成された表面欠陥に蛍光磁粉を付着させて上記表面欠陥を探傷する従来の技術では,表面欠陥部分以外に点状に蛍光磁粉が付着した磁粉溜まり等と上記表面欠陥部分とを判別することが難しい場合があった。【解決手段】 本発明は,上記所定方向DDに交差する方向に一列に複数配置されると共に上記所定方向DDに長い矩形状の画素9を用いて上記鋼材2等の物品表面を撮像し,該画素9を単位として撮像画像の処理を行うことにより,上記磁粉溜まり等による誤検出を低減させる共に探傷の迅速処理,構成の簡素化を図ったものである

請求項（抜粋）：

物品を所定方向に搬送する搬送手段と,上記所定方向と交差する方向に複数配列された画素を有し,上記搬送手段により搬送される物品の表面を撮像する撮像手段と,上記撮像手段により撮像された物品表面の画像を処理し,上記物品の表面の上記所定方向に線状に形成された表面欠陥の有無を検査する検査手段とを具備してなる表面欠陥探傷装置において,上記検査手段が,上記所定方向に長い矩形状の画素を単位として上記物品表面の画像を処理するものであり,上記矩形状の画素の短辺側の長さは,検査対象となる最小の上記表面欠陥がある部分の上記所定方向と交差する方向の長さに基づいて設定されてなることを特徴とする表面欠陥探傷装置。

IPC (3件)：

G01N 21/91 ,  G01N 27/84 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01N 21/91 B ,  G01N 27/84 ,  G06F 15/62 400

引用特許：

出願人引用 (5件)

• 磁粉探傷用紫外線照明装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-152919   出願人：新日本製鐵株式会社, ニッテツ北海道制御システム株式会社
• 特開平2-072678
  
• 円筒状被検物の表面凹凸欠陥検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-169058   出願人：株式会社リコー
• 表面欠陥探傷装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-169213   出願人：株式会社神戸製鋼所
• 表面検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-204715   出願人：株式会社東芝

審査官引用 (4件)

• 磁粉探傷用紫外線照明装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-152919   出願人：新日本製鐵株式会社, ニッテツ北海道制御システム株式会社
• 特開平2-072678
  
• 円筒状被検物の表面凹凸欠陥検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-169058   出願人：株式会社リコー
• 表面欠陥探傷装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-169213   出願人：株式会社神戸製鋼所