特許
J-GLOBAL ID：200903055266223336
表面検査装置
出願人/特許権者：
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-204715
公開番号（公開出願番号）：特開平8-105842
出願日： 1995年08月10日
公開日（公表日）： 1996年04月23日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、帯状物上の表面欠陥が様々な形状で複数の部分からなる場合にも各欠陥の種類及び等級をリアルタイムで高速且つ正確に識別することを目的とする。【解決手段】 走行する帯状物1の表面欠陥の画像を検出する検出手段3と、その表面欠陥の画像から欠陥の分布状態を判定して同種の欠陥からなる欠陥領域を決定する欠陥領域判定手段20と、その欠陥領域に含まれる欠陥の種類及び等級を識別する識別手段30とを備えたことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
走行する帯状物の表面欠陥の画像を検出する検出手段と、検出された前記表面欠陥の画像から欠陥の分布状態を判定して同種の欠陥からなる欠陥領域を決定する欠陥領域判定手段と、決定された前記欠陥領域に含まれる欠陥の種類及び等級を識別する識別手段とを備えたことを特徴とする表面検査装置。
IPC (3件)：
FI (2件)：
引用特許：
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