特許
J-GLOBAL ID:200903024863873098
スキャンされた対象物の放射線画像を処理するための方法、システム、及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
松本 研一
, 小倉 博
, 伊藤 信和
, 黒川 俊久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-167140
公開番号(公開出願番号):特開2004-361407
出願日: 2004年06月04日
公開日(公表日): 2004年12月24日
要約:
【課題】 スキャンされた対象物の放射線画像を処理するための方法に関する。【解決手段】 ピクセルオフセット補正は、飽和演算を用いて放射線画像について整数フォーマットを行い(510)、ゼロの値にクリップされる負の補正値を有する整数フォーマットの画像を生成する。得られたピクセルは、浮動小数点フォーマットに変換され(520)、そのピクセルにゲイン係数が掛けられる(530)。得られたピクセルは整数フォーマットに変換され(550)、変換されたピクセル値は、飽和演算を用いて最大値にクランプされる。非機能ピクセル補正(560)は整数フォーマットで行われ、得られたピクセル値は、飽和演算を用いて最大値にクランプされる。得られたピクセル値は、フィルタ処理(580)して、関心のある特徴を強調する。得られたピクセル値は、整数フォーマットでパレットインデックスにマッピングされ(570)、多くの輝度レベルの出力ピクセル輝度を設定する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
スキャンされた対象物(120)の放射線画像を処理する方法(500)であって、
符号なしの飽和演算(510)を用いて放射線画像に対するピクセルオフセット補正を整数フォーマットで行い、ゼロの値にクリップされた負のピクセル値を有する整数フォーマットでの画像を生成する段階と、
結果として得られたピクセルを浮動小数点フォーマットに変換して(520)、前記変換されたピクセルに正の浮動少数点ゲイン係数を掛ける段階(530)と、
結果として得られたピクセルを整数フォーマットに変換して(550)、飽和演算(510)を用いて前記変換されたピクセル値を最大値にクランプする段階と、
非機能ピクセル補正を整数フォーマットで行い(560)、飽和演算(510)を用いて前記結果として得られたピクセル値を最大値にクランプする段階と、
ルックアップテーブルを用いて前記結果として得られたピクセル値をパレットインデックスに整数フォーマットでマッピングして、多くの輝度レベルのうちの1つを有する出力ピクセル輝度を設定する段階(570)と、
を含む方法。
IPC (4件):
G01N23/04
, A61B6/00
, G01T1/00
, G01T1/17
FI (4件):
G01N23/04
, G01T1/00 B
, G01T1/17 E
, A61B6/00 350Z
Fターム (36件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA08
, 2G001FA09
, 2G001FA25
, 2G001GA06
, 2G001HA07
, 2G001HA09
, 2G001HA13
, 2G001KA01
, 2G001KA03
, 2G001KA04
, 2G088EE29
, 2G088FF02
, 2G088JJ05
, 2G088JJ27
, 2G088KK07
, 2G088KK20
, 2G088KK21
, 2G088KK29
, 2G088KK32
, 2G088LL11
, 2G088LL26
, 4C093AA16
, 4C093CA03
, 4C093CA04
, 4C093FC19
, 4C093FD01
, 4C093FD03
, 4C093FD05
, 4C093FD12
, 4C093FF08
, 4C093FF09
, 4C093FF30
引用特許:
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