特許
J-GLOBAL ID：200903024930594069

非接触式3次元形状測定装置

発明者：
浅野 秀光

浅野 秀光 について

, 
八島 剛

八島 剛 について


出願人/特許権者：
株式会社ミツトヨ

株式会社ミツトヨ について


代理人 (1件)： 伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-415280
公開番号（公開出願番号）：特開2005-172695
出願日： 2003年12月12日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：
【課題】 受光部での受光光量を常に適正に保って高精度な測定を実行することができると共に、短い測定時間で測定を完了することが可能な非接触式3次元測定装置を提供する。 【解決手段】 ワークの画像をCCDカメラで撮影したワーク画像12 ́をCRT25上に表示させ、レーザプローブによる測定経路MLをオペレータにマウス24を用いて描画させる。描画された測定経路ML上の測定点での反射率を、ワーク画像12 ́の画素濃度から推定し、この反射率に基づいて、レーザプローブの出力レーザ光の光量を決定する。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
ワークを撮像する撮像手段と、 前記ワーク上の測定点に測定光を投影してその反射光を受光して前記測定点までの距離を変位量として検出する非接触式変位計と、 前記撮像手段により撮像された前記ワークの画像に基づき前記測定点における前記測定光の光量を制御する光量制御手段と を備えたことを特徴とする非接触式3次元形状測定装置。
IPC (1件)：
G01B11/24
FI (1件)：
G01B11/24 K
Fターム (18件)：
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065DD06 ,  2F065DD09 ,  2F065FF04 ,  2F065FF44 ,  2F065GG04 ,  2F065GG06 ,  2F065HH03 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL46 ,  2F065MM01 ,  2F065MM03 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ03 ,  2F065SS00 ,  2F065SS06
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)
  • 非接触三次元測定方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-161097   出願人：株式会社ミツトヨ
  • 非接触三次元測定方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-161099   出願人：株式会社ミツトヨ
  • 内壁測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-100053   出願人：株式会社豊田中央研究所

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