特許
J-GLOBAL ID：200903025016279933
光散乱透過シートの欠点検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-230146
公開番号（公開出願番号）：特開2002-048726
出願日： 2000年07月31日
公開日（公表日）： 2002年02月15日
要約：
【要約】【課題】光散乱透過シートにおける異物欠点と光散乱欠点の両方を一回の検査で高感度にかつ高速に検出することができる欠点検査装置を提供する。【解決手段】移送される光散乱透過シートにおける欠点の有無を検査する欠点検査装置であって、散乱透過シートを散乱透過する光線によって撮像するラインセンサカメラと、ラインセンサカメラの撮像光軸の延長上から離れて設けられたライン状光源と、ラインセンサカメラの撮像光軸の延長上に設けられた帯状調光部材とを具備する欠点検査装置。
請求項（抜粋）：
移送される光散乱透過シートにおける欠点の有無を検査する欠点検査装置であって、ラインセンサカメラと、ライン状光源を具備し、前記ラインセンサカメラは、ライン状の撮像領域を有するカメラであって、前記光散乱透過シートの移送方向と直角方向に走査を行い前記光散乱透過シートを撮像して撮像信号を出力し、前記ライン状光源は、前記ラインセンサカメラが前記散乱透過シートを散乱透過する光線によって撮像するためのライン状の発光領域を有する光源であって、その発光領域の方向と前記撮像領域の方向は平行方向であり、前記光散乱透過シートの非撮像側の位置に前記ラインセンサカメラの撮像光軸の延長上から離れて設けられる、ことを特徴とする欠点検査装置。
Fターム (19件)：
2G051AA32
, 2G051AA41
, 2G051AB01
, 2G051AB02
, 2G051BA20
, 2G051BB17
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CC07
, 2G051DA01
, 2G051DA06
, 2G051EA08
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA20
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051ED03
