特許
J-GLOBAL ID：200903025041712919
検査用ピン及び検査用治具
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
坂上 好博 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-153175
公開番号（公開出願番号）：特開平11-344536
出願日： 1998年06月02日
公開日（公表日）： 1999年12月14日
要約：
【要約】【課題】 異なった仕様のプリント基板の検査に容易にかつ短時間の準備で対応できる検査用治具を提供する。【解決手段】 検査用治具に用いられる検査用ピン13において、プリント基板11のスルーホール49に接触するプルーブ22と、プルーブ22が摺動自在に格納される内筒21と、内筒21に収納されたプルーブ22を外方向に付勢するスプリング25と、内筒21に外嵌するソケット20とから構成されるプルーブ体16が絶縁体19を介して胴体17に格納される。ソケット20の下端は、胴体17の下方に挿入されるコード23の接続線26に電気的に接続される。胴体17の下部の脚部18の内部には磁石24が取付けられ、鉄板12に対して検査用ピン13は固着及び脱着が容易となり、プリント基板11のスルーホール49に合わせて所望の位置に容易に移動させることができる。
請求項（抜粋）：
磁性体上に着脱自在に取付けられる、電子機器用プリント基板のための検査用ピンであって、プルーブを含み、導電体よりなるプルーブ体と、前記プルーブ体を絶縁状態で格納する胴体と、前記胴体の下面に取付けられた磁石と、前記胴体を貫通して取付けられ、前記プルーブ体に電気的に接続されるコードとを備えた、検査用ピン。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G01R 1/06
, G01R 31/02
, H05K 3/00
G01R 31/28 K
, G01R 1/06 D
, G01R 31/02
, H05K 3/00 T
