特許
J-GLOBAL ID：200903025338910795

変位測定装置

発明者：
山本 裕之

山本 裕之 について


出願人/特許権者：
横河電機株式会社

横河電機株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-055857
公開番号（公開出願番号）：特開2001-241919
出願日： 2000年03月01日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：
【要約】【課題】 測定対象を限定することなく非接触で高速に高精度の測定が行える比較的安価な変位測定装置を提供すること。【解決手段】 測定対象の基準位置の基準画像データを格納する第1の記憶部と、測定対象の測定位置の測定画像データを格納する第2の記憶部と、これら基準画像データと測定画像データに共通する注目部分を抽出比較して基準画像と測定画像のずれ量を求め、測定対象の変位量を算出する信号処理部、とで構成されたことを特徴とするもの。
請求項（抜粋）：
測定対象の基準位置の基準画像データを格納する第1の記憶部と、測定対象の測定位置の測定画像データを格納する第2の記憶部と、これら基準画像データと測定画像データに共通する注目部分を抽出比較して基準画像と測定画像のずれ量を求め、測定対象の変位量を算出する信号処理部、とで構成されたことを特徴とする変位測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/00 ,  G01D 5/30
FI (2件)：
G01B 11/00 H ,  G01D 5/30 P
Fターム (37件)：
2F065AA02 ,  2F065AA07 ,  2F065AA09 ,  2F065AA39 ,  2F065BB03 ,  2F065BB13 ,  2F065BB15 ,  2F065BB16 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF18 ,  2F065FF19 ,  2F065FF42 ,  2F065GG01 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ25 ,  2F065LL30 ,  2F065MM03 ,  2F065MM04 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR05 ,  2F103BA37 ,  2F103CA03 ,  2F103DA01 ,  2F103DA04 ,  2F103EA03 ,  2F103EA15 ,  2F103EB01 ,  2F103EB11 ,  2F103ED11 ,  2F103ED27 ,  2F103ED28
引用特許：
審査官引用 (9件)
  • 特開昭62-170803
  • 特開平1-320412
  • 特開昭60-209104
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