特許
J-GLOBAL ID：200903025379589381
質量分析装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-278670
公開番号（公開出願番号）：特開2006-092980
出願日： 2004年09月27日
公開日（公表日）： 2006年04月06日
要約：
【課題】装置の大型化の抑制及び測定時間の短縮化を図りながら、分析対象成分の詳細な構造情報を、取得可能な質量分析装置を実現する。【解決手段】エンドキャップ電極2とリング電極3と絶縁物4とで3DQ部が形成され絶縁物4にガス導入口8が形成される、ガス導入口8には一本から複数管に分岐されるガス導入路7が接続される。各分岐管はマスフローメータ6を介して衝突ガス発生装置5に接続される。各衝突ガス発生装置5は互いに異なる種類の衝突ガスが封入されマスフローメータ6で混合ガス流量を設定し経路7内で混合した後3DQ内に導入する。ガスは初めキセノンに設定しMS/MS測定を開始し時間経過と共に分析対象の分子量は小さくなるため導入ガスにヘリウムを混合しガス種比率を勾配させる。単独の衝突セルを使用した一回のMS/MS法で高分子から低分子量成分まで効率よく開裂し各分子の構造情報を取得できる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料に由来するイオンと衝突ガスとの衝突誘起開裂反応を行なうための衝突セルを有し、上記イオンを質量分析する質量分析装置において、
上記衝突セル内に複数種類の衝突ガスを単独または混合して導入するためのガス導入路と、
上記複数種類の衝突ガスの上記衝突セルへの導入流量を、上記複数種類の衝突ガスのそれぞれについて調整するガス流量調整手段と、
上記衝突セル内に導入する衝突ガスの種類、流量及び衝突ガスの混合比の時間変化を調節するため、上記ガス流量調整手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/02
, G01N 27/62
, H01J 49/26
H01J49/02
, G01N27/62 F
, H01J49/26
出願人引用 (1件)
-
質量分析方法及び装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平10-343196
出願人：株式会社日立製作所
審査官引用 (3件)
-
質量分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2004-051586
出願人：株式会社島津製作所
-
質量分析計
公報種別：公開公報
出願番号：特願平3-241898
出願人：株式会社日立製作所
-
特開昭61-292847
前のページに戻る
