特許
J-GLOBAL ID：200903075077490081

多色X線測定装置及び方法

発明者：
土橋 克広

土橋 克広 について


出願人/特許権者：
独立行政法人放射線医学総合研究所

独立行政法人放射線医学総合研究所 について


代理人 (3件)： 堀田 実 ,  仲宗根 康晴 ,  野村 俊博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-273485
公開番号（公開出願番号）：特開2007-082663
出願日： 2005年09月21日
公開日（公表日）： 2007年04月05日
要約：
【課題】 複数の光子が時間的に同時に入射する状況において、多色X線に含まれる波長の異なる複数の単色X線を同時に検出し、かつ検出した多色X線に含まれる複数の単色X線の強度又はその比率を求めることができる多色X線測定装置及び方法を提供する。【解決手段】 上流側の第1X線検出器12と下流側の第2X線検出器14と演算装置20とを備える。2台のX線検出器12、14は、多色X線(2種の単色X線1a、2a)が順次同時に通過するように互いに積層されている。演算装置20により、各波長λ1,λ2の単色X線に対する、各X線検出器の検出効率G11,G21、G12,G22と、各波長λ1,λ2の単色X線が第2X線検出器14に入射するまでの透過効率A12,A22と、各X線検出器の検出強度V1,V2から、第1X線検出器12に入射する2種の単色X線1a、2aの各強度I1,I2又はその比率を演算する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
互いに異なる波長λi(i=1,2,...n;nは2以上の整数)の複数の単色X線を含む多色X線を測定する多色X線測定装置であって、 前記多色X線が順次同時に通過するように積層され、通過する多色X線の強度Vj(j=1,2,...m;mは2以上の整数)をそれぞれ検出する複数のX線検出器と、 前記各X線検出器の検出強度Vjから最上流側のX線検出器に入射する複数の単色X線の各強度又はその比率を演算する演算装置と、を備えることを特徴とする多色X線測定装置。
IPC (1件)：
A61B 6/03
FI (1件)：
A61B6/03 370G
Fターム (4件)：
4C093CA27 ,  4C093EA07 ,  4C093EB28 ,  4C093FF34
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (8件)
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