特許
J-GLOBAL ID：200903025484353628

ワイヤソーの表面状態検査装置

発明者：
原 博

原 博 について

, 
菅原 潤

菅原 潤 について


出願人/特許権者：
住友電気工業株式会社

住友電気工業株式会社 について


代理人 (1件)： 中野 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-191308
公開番号（公開出願番号）：特開2003-004646
出願日： 2001年06月25日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：
【要約】【課題】 ワイヤソーの製造後における製造ロット毎の品質確認検査を排し、製造工程中に製品の合否を連続的に判定し、さらに製造ロット毎にワイヤソーの表面における砥粒のコーティング状態を記憶させ、その後の製造条件の修正にフィードバック可能なワイヤソーの表面状態検査装置を提供する。【解決手段】 硬質砥粒のコーティングされたワイヤソー1aの製造工程の終端において、コーティングされた砥粒部の輝度と素線表面地肌部の輝度の差が最も大きくなるようにワイヤソー1aの全周に斜めから複数のスポット照明を当て、全周に均等に配置した複数のCCDカメラ8によって、ワイヤソー1aの表面の静止画像を撮像し、その信号を演算装置10に入力して砥粒数、砥粒面積等を連続的に計数し、予め設定された閾値と比較してワイヤソー1aの表面状態の合否判定を行う。
請求項（抜粋）：
硬質砥粒のコーティングされたワイヤソーの製造工程の終端において、コーティングされた砥粒部の輝度と素線表面地肌部の輝度の差が最も大きくなるように前記ワイヤソーの全周に斜めから複数のスポット照明を当て、全周に均等に配置した複数のCCDカメラによって、前記ワイヤソーの表面の静止画像を撮像し、その信号を演算装置に入力して砥粒数、砥粒面積等を連続的に計数し、予め設定された閾値と比較してワイヤソーの表面状態の合否判定を行うことを特徴とするワイヤソーの表面状態検査装置。
IPC (3件)：
G01N 21/892 ,  B24B 27/06 ,  G01B 11/28
FI (3件)：
G01N 21/892 C ,  B24B 27/06 H ,  G01B 11/28 Z
Fターム (35件)：
2F065AA58 ,  2F065BB12 ,  2F065BB15 ,  2F065CC10 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065HH04 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK01 ,  2F065KK02 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS02 ,  2F065SS04 ,  2G051AA44 ,  2G051AB07 ,  2G051BA01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  3C058AA05 ,  3C058AA09 ,  3C058AC02 ,  3C058CA04 ,  3C058DA03 ,  3C058DA17
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • ワイヤソー装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-325580   出願人：株式会社日平トヤマ
  • ワイヤーソー及びその製造方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-239548   出願人：住友電気工業株式会社, 大阪ダイヤモンド工業株式会社

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