特許
J-GLOBAL ID：200903025635258290

リング端面欠陥検査装置

発明者：
丹下 宏司

丹下 宏司 について


出願人/特許権者：
ジヤトコ株式会社

ジヤトコ株式会社 について


代理人 (1件)： 鹿嶋 英實
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-097236
公開番号（公開出願番号）：特開2005-283310
出願日： 2004年03月29日
公開日（公表日）： 2005年10月13日
要約：
【課題】 金属リング2の端面欠陥の検査を自動化できるようにし、以て、効率の改善と、良好な精度及び再現性が得られるリング端面欠陥検査装置を提供する。【解決手段】 欠陥検査部15によって金属リング2の端面欠陥が検査する際に、角度変更手段により、前記欠陥検査部15に含まれる少なくとも前記第一の導光路及び第二の導光路の前記被検査面に対する角度を所定の範囲(θ1〜θ5)で連続的に変更操作する。この変更操作は、目視検査における操作(金属リング2の端面2aに対する視認方向を様々に変える操作)に相当するため、目視検査の経験則(金属リング2の角度を変えながら目視検査を行えば、端面2aの光沢痕を見つけやすい。)を応用して、本発明の課題を達成できる。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
少なくとも二つのプーリと、該プーリ間に掛け渡される検査対象物としての金属リングと、該プーリを回転させて前記金属リングに周回運動を与える回転駆動手段と、回転中の前記プーリの間隔を加減しながら前記金属リングに所定のテンションを与えるテンション付与手段と、周回運動中の前記金属リングの被検査面である側端面の欠陥を検査する欠陥検査部とを備え、 前記欠陥検査部は、 検査対象物の被検査面を照明する光源と、 前記被検査面からの反射光を第一の受光素子に導く第一の導光路及び該反射光を第二の受光素子に導く第二の導光路と、 前記第一の受光素子から出力される電気信号又はその電気信号に相関する電気信号と前記第二の受光素子から出力される電気信号又はその電気信号に相関する電気信号との差分値を演算する差分値演算手段と、 前記差分値と所定のしきい値とを比較して前記被検査面の欠陥の有無を判別する判別手段とを含むリング端面欠陥検査装置であって、 前記第一の導光路及び第二の導光路の前記被検査面に対する角度を所定の範囲で連続的に変更操作する角度変更手段を備えたことを特徴とするリング端面欠陥検査装置。
IPC (1件)：
G01N21/892
FI (1件)：
G01N21/892 B
Fターム (14件)：
2G051AA07 ,  2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051BB01 ,  2G051BB17 ,  2G051CA01 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CC17 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EB01
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)

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