特許
J-GLOBAL ID:200903026109262557

半導体レーザ装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-055420
公開番号(公開出願番号):特開平7-263811
出願日: 1994年03月25日
公開日(公表日): 1995年10月13日
要約:
【要約】【目的】 電気的サージに起因する急速劣化の起こらない半導体レーザを提供することを目的とする。【構成】 n-GaAs基板3上にGaAsバッファ層4、GaAs基板に格子整合したn-InGaPクラッド層5、歪量子井戸活性層6、GaAs基板に格子整合したp-InGaPクラッド層7、p-GaAs光導波路層8、GaAsに格子整合したp-InGaPクラッド層9、p-GaAsキャップ層10により形成されるリッジがn-InGaP電流狭窄層11により埋込まれることにより構成され、また、素子ストライプは素子内部の電流注入領域1及び端面近傍部の電流非注入領域2から構成されている。【効果】 本発明により、光通信システムに用いる希土類添加光ファイバ増幅器励起用光源として十万時間以上の長時間にわたって安定に動作する半導体レーザを実現することができる。
請求項(抜粋):
GaAs基板上に少なくとも1層のInGaAs層により構成された光を発生する活性層と光を閉じ込める半導体クラッド層と発生した光からレーザ光を得るための共振器構造と共振器方向に沿ってストライプ状に他の部分よりも実効屈折率の高い領域を有し、レーザ光の波長が0.9μm〜1.1μmの範囲である半導体レーザ装置において、上記実効屈折率の高い領域の端面に隣接する部分に電流を注入しない領域を有することを特徴とする半導体レーザ装置。
IPC (2件):
H01S 3/18 ,  H01L 29/06
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 半導体レーザ装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-070597   出願人:株式会社日立製作所, 日立電線株式会社
  • 歪量子井戸半導体レーザ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-070599   出願人:株式会社日立製作所, 日立電線株式会社
  • 特開平2-065286
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