特許
J-GLOBAL ID：200903026148598961

バーンインボード

発明者：
小山 俊雄

小山 俊雄 について


出願人/特許権者：
日鉄セミコンダクター株式会社

日鉄セミコンダクター株式会社 について


代理人 (1件)： 藤島 洋一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-132881
公開番号（公開出願番号）：特開平9-297162
出願日： 1996年04月30日
公開日（公表日）： 1997年11月18日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 共通回路部以外の回路配線の長さを短くできると共に、配線のパターン幅の拡大も可能であり、信号ノイズを低減させることができ、かつ回路変更の態様も多くできるバーンインボードを提供する【解決手段】 ICソケット202の番号1〜7の端子と、これらの端子に対応する抵抗203との間の配線接続部にはVCC回路切換ソケット204AおよびGND回路切換ソケット205Aが配置されている。ICソケット202の番号8〜14の端子とこれらの端子に対応する抵抗203との間の配線接続部にはVCC回路切換ソケット204BおよびGND回路切換ソケット205Bがそれぞれ配置されている。VCC回路切換ユニット206が例えばVCC回路切換ソケット204Aに、またGND回路切換ユニット207が例えばGND回路切換ソケット205Bに対してそれぞれ装着される。
請求項（抜粋）：
各々複数の端子を有する被試験デバイスが収納されると共に収納された被試験デバイスの端子に電気的に接続される複数の試験端子を有する被試験デバイス収納部と、これらの被試験デバイス収納部の試験端子に対して信号を供給するための信号供給手段と、前記被試験デバイス収納部の他の試験端子に対して第1の試験用電位を供給するための第1の電位供給手段と、前記被試験デバイス収納部の試験端子に対して第1の電位と異なる第2の試験用電位を供給するための第2の電位供給手段と、前記被試験デバイス収納部の近傍に設けられると共に、前記第1の電位供給手段および第2の電位供給手段からの前記被試験デバイス収納部の各試験端子に対する電位供給の有無を選択的に切り換えることにより前記被試験デバイスの種類に応じて試験回路を変更させることができる試験回路切換手段とを備えたことを特徴とするバーンインボード。
IPC (2件)：
G01R 31/26 ,  G01R 31/28
FI (2件)：
G01R 31/26 H ,  G01R 31/28 H
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • バーンイン試験用ボード
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-282500   出願人：三菱電機株式会社
  • 特開平3-170078
  • バーンインボード
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-293603   出願人：富士通株式会社

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