特許
J-GLOBAL ID：200903026168501280
測量装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
西川 惠清
, 森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-347714
公開番号（公開出願番号）：特開2006-153772
出願日： 2004年11月30日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
要約：
【課題】対象物が複数個存在していても1箇所で対象物の座標位置を特定でき省力化を可能とした測量装置を提供する。【解決手段】発光源2は対象空間に所定周期の変調信号で変調された光を照射し、光検出素子1は対象空間を撮像する。画像生成部4は、発光源2から対象空間に照射された光と対象空間内の対象物Obで反射され光検出素子1で受光される反射光との変調信号の位相差によって対象物Obまでの距離を求める。画像生成部4で生成された距離画像は、位置センサ51で検出した距離画像センサ10の基準座標系における位置および方向センサ52で検出した距離画像センサ10の基準座標系における方向とともに座標演算部54に与えられる。座標演算部54は基準座標系での対象物Obの座標位置を求め、地図作製部55は対象物Obの座標位置を電子地図に記録する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
対象空間に光を照射するとともに対象空間に照射した光の反射光を含む光を受光し照射光と反射光との関係により対象物までの距離を測定する距離センサと、距離センサを移動させる空間を規定する基準座標系において距離センサで距離を測定する方向を検出する方向センサと、基準座標系において距離センサの座標位置を特定する位置センサと、位置センサと方向センサと距離センサとにより得られる座標位置と方向と距離とから基準座標系における対象物の座標位置を決定する座標演算部とを備えることを特徴とする測量装置。
IPC (3件)：
G01C 15/00
, G01B 11/00
, G09B 29/00
G01C15/00 101
, G01B11/00 B
, G09B29/00 Z
2C032HB03
, 2C032HB06
, 2C032HB24
, 2C032HB25
, 2C032HD00
, 2F065AA06
, 2F065EE05
, 2F065FF09
, 2F065HH04
, 2F065JJ05
, 2F065JJ16
, 2F065JJ23
, 2F065QQ23
, 2F065QQ26
, 2F065QQ27
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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