特許
J-GLOBAL ID：200903026169786504

光断層画像化装置

発明者：
川原 果林

川原 果林 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-072184
公開番号（公開出願番号）：特開2007-121262
出願日： 2006年03月16日
公開日（公表日）： 2007年05月17日
要約：
【課題】光コヒーレンストモグラフィー計測において、測定対象に波長帯域のある低コヒーレンス光を照射し、そのときの干渉光の周波数解析を行うことにより断層画像を取得する場合に、使用目的に応じて測定可能範囲(測定深度)を切り換える。【解決手段】制御手段70が、測定対象の深さ方向の断層画像の取得を開始する測定開始位置を調整する測定開始位置調整モードと、測定対象の断層画像を取得する画像取得モードとを切り替える機能を有している。そして、制御手段70は、画像取得モード時よりも測定開始位置調整モード時の方が波長分解能が良くなるように、干渉光検出手段40を制御する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光を射出する光源ユニットと、 該光源ユニットから射出された前記低コヒーレンス光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、 該光分割手段により分割された前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、 該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、 該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、 前記干渉光検出手段が、第1の波長分解能で前記干渉光を検出する第1検出モードと、前記第1の波長分解能よりも高い波長分解能である第2の波長分解能で前記干渉光を検出する第2検出モードとを切り換え可能に構成されていることを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (3件)：
G01N 21/17 ,  A61B 1/00 ,  A61B 10/00
FI (4件)：
G01N21/17 620 ,  A61B1/00 300D ,  A61B1/00 334D ,  A61B10/00 E
Fターム (21件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  4C061GG15 ,  4C061HH51 ,  4C061JJ17
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 光イメージング装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-374702   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 米国特許第5565986号明細書
  • 線条体クリップ
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-251869   出願人：古河電気工業株式会社
審査官引用 (3件)

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