特許
J-GLOBAL ID:200903026424160088

可変コリメータを有する放射分析用装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 伊東 忠彦 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-221190
公開番号(公開出願番号):特開2001-091699
出願日: 2000年07月21日
公開日(公表日): 2001年04月06日
要約:
【要約】【課題】 放射分析装置、例えばX線分光器において、分析用放射ビームの開口角は測定過程中変えることが望まれる。放射ビームの開口角は例えばコリメータの視準素子の長さによって決定される。【解決手段】 本発明によれば、これはコリメータを放射ビーム中で変位させ又は回転させることにより達成され、これにより、放射ビームにさらされる視準素子の長さが結果的に変えられうる。四角形の板よりなるコリメータ(ソラーコリメータ)は板に垂直な軸の回りに回転され得、X線ファイバよりなるコリメータは変るファイバ長さをもって配置され得、ファイバの長手方向に対し横方向に放射ビーム中でそれらを変位させる。
請求項(抜粋):
放射ビームが放射源から検査さるべき試料を介して放射検出器に判る光学路に沿って走り、その光学路中に視準素子を有するコリメータが存在し、コリメータは放射ビーム中の動きの結果放射ビームの可変開口角を示す、検査さるべき試料の放射分析用装置であって、コリメータは、放射ビームにさらされる視準素子の長さが結果として変化されるように放射ビーム中で動かされうることを特徴とする放射分析用装置。
IPC (4件):
G21K 1/06 ,  G01N 23/207 ,  G01T 7/00 ,  G21K 1/02
FI (5件):
G21K 1/06 T ,  G21K 1/06 K ,  G01N 23/207 ,  G01T 7/00 B ,  G21K 1/02 G
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 蛍光X線分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-287702   出願人:株式会社島津製作所
  • 光学系
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-111250   出願人:シュルンベルジェテクノロジーズ,インコーポレイテッド
  • 特開平4-081684
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審査官引用 (5件)
  • 蛍光X線分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-287702   出願人:株式会社島津製作所
  • 光学系
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-111250   出願人:シュルンベルジェテクノロジーズ,インコーポレイテッド
  • 特開平4-081684
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