特許

J-GLOBAL ID：200903026471630114

表示装置

発明者： 松岡 英樹 ,  鈴木 崇夫 ,  奥 規夫
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 安富 耕二 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-277999
公開番号（公開出願番号）：特開平11-167123
出願日： 1998年09月30日
公開日（公表日）： 1999年06月22日
要約：

【要約】【課題】 ドライバー内蔵型のLCDにおいて、全ての素子の良否を判定する。【解決手段】 TFT基板1と対向基板2とを貼り合わせるシール材3の直下に検査用TFT11を設け、その検査用端子9をTFT基板1が対向基板2から迫り出されてなるひさし部上に取り出されている。貼り合わせ以降の条件によるTFT素子の特性の変動も含めて、良否が判定される。

請求項（抜粋）：

周縁の接着材により光学部材を挟持して貼り合わされた一対の基板の内側に、前記光学部材を変調するための複数の表示用素子が形成されてなる表示装置において、前記一対の基板の一方の基板の内側表面には、前記接着材の下部領域に、前記表示用素子と類似構造の検査用素子が設けられ、前記検査用素子の検査用端子は、前記接着材の外側領域に引き出されていることを特徴とする表示装置。

IPC (7件)：

G02F 1/1345 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/136 500 ,  G09F 9/30 333 ,  H01L 21/66 ,  H01L 29/786

FI (8件)：

G02F 1/1345 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/136 500 ,  G09F 9/30 333 ,  H01L 21/66 V ,  H01L 29/78 612 B ,  H01L 29/78 624

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特性専用測定トランジスタ,特性検査方法及び液晶表示パネル
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-204358   出願人：富士通株式会社
• 液晶表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-249102   出願人：株式会社東芝