特許
J-GLOBAL ID：200903026491846334
リニアイオントラップ型質量分析計における空間電荷低減方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-522975
公開番号（公開出願番号）：特表2005-500662
出願日： 2002年08月14日
公開日（公表日）： 2005年01月06日
要約：
リニアイオントラップを備える質量分析計に対する充填時間設定方法が提供される。質量分析計は初めに通過モードで動作させられ、イオンが質量分析計に供給される。イオンは、イオン電流を決定するため、あらかじめ設定された時間内にイオンが質量分析計の少なくとも一部を通過すると検出される。イオントラップに望ましい最大電荷密度及びイオン電流から、イオントラップに対する充填時間が決定される。質量分析計はイオントラップにイオンをトラップするためにトラッピングモードで動作させられ、イオントラップは決定されたばかりの充填時間をかけて充填される。これにより、イオントラップが最大限に利用されるが、空間電荷効果を生じさせるトラップの過充填による問題は回避される。
請求項（抜粋）：
リニアイオントラップを備える質量分析計の充填時間の設定方法において、
(a) 前記質量分析計を通過モードで動作させる工程、
(b) 前記質量分析計にイオンを供給する工程、
(c) イオン電流を決定するために、あらかじめ設定された時間にわたり前記質量分析計の少なくとも一部を通過するイオンを検出する工程、
(d) 前記イオントラップに対して望ましい最大電荷密度及び前記イオン電流から、前記イオントラップに対する充填時間を決定する工程、
(e) 前記イオントラップにイオンをトラップするために、前記質量分析計をトラッピングモードで動作させる工程、及び前記工程(d)で決定された前記充填時間をかけて前記イオントラップを充填する工程、及び
(f) 前記イオントラップ内にトラップされたイオンから分析スペクトルを得る工程、
を含むことを特徴とする方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (4件)：
5C038JJ04
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
