超音波アレイ探傷法及び超音波アレイ探傷装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：平木祐輔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-127464
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321251
出願日： 1999年05月07日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：

【要約】【課題】アレイ探触子によりきずの開口部、端部、及び高さを高精度で測定できる超音波アレイ探傷法及び超音波アレイ探傷装置を提供すること。【解決手段】アレイ探触子1を被検査物Mに沿って移動させ、超音波ビームが被検査物Mの底面ときず15の側面とで2回反射されて受信されるビーム受信時間差分布の極小値が送信ビームの中心と一致するときのアレイ探触子位置からきず15の開口部15aを測定し、アレイ探触子での受信強度分布に明瞭なピークがなくなるアレイ探触子位置からきずの端部15bを測定し、開口部15a及び端部15bを測定したアレイ探触子位置間の距離と探傷屈折角からきず15の高さHを算出する。

請求項（抜粋）：

アレイ探触子から被検査物の中にその表面に対して斜めに超音波ビームを送信し、前記アレイ探触子を素子の配列方向に走査させ、各素子のビーム受信時間差分布の極小値が送信ビームの中心と一致するときの前記アレイ探触子の位置からきずの開口部の位置を求めることを特徴とする超音波アレイ探傷法。

IPC (3件)：

G01N 29/10 , G01B 17/00 , G01N 29/24 502

FI (3件)：

G01N 29/10 , G01B 17/00 Z , G01N 29/24 502

Fターム (28件)：

2F068AA49 , 2F068AA50 , 2F068FF03 , 2F068FF12 , 2F068FF15 , 2F068FF16 , 2F068GG01 , 2F068JJ02 , 2F068KK12 , 2F068LL04 , 2F068QQ05 , 2F068QQ14 , 2F068QQ22 , 2F068QQ44 , 2G047AB07 , 2G047BB02 , 2G047BC07 , 2G047BC10 , 2G047DB02 , 2G047EA10 , 2G047GA19 , 2G047GB02 , 2G047GF06 , 2G047GG09 , 2G047GG19 , 2G047GG23 , 2G047GG24 , 2G047GG30

引用特許：

審査官引用 (8件)

アレイ超音波探傷法及びその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-066151 出願人：東京瓦斯株式会社
特開昭63-070160
特公平2-057270

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引用文献：

審査官引用 (2件)

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