特許
J-GLOBAL ID:200903027318194220

新規オニウム塩、光酸発生剤、レジスト材料及びパターン形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小島 隆司 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-301972
公開番号(公開出願番号):特開2001-172251
出願日: 2000年10月02日
公開日(公表日): 2001年06月26日
要約:
【要約】 (修正有)【解決手段】 式1で示されるオニウム塩。(式中、R1はH、又はC1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基を示す。R2はH、C1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、又はフェニル基を示す。R3は同一でも異なってもよく、C1〜10の直鎖状、分岐状もしくは環状の置換もしくは非置換のアルキル基、又はC6〜14の置換もしくは非置換のアリール基を示す。MはS又はIを示し、MがSの場合、aは3であり、MがIの場合、aは2である。)【効果】 解像性、焦点余裕度に優れ、PEDが長時間にわたる場合にも線幅変動、形状劣化が少なく、塗布後、現像後、剥離後の異物が少なく、現像後のパターンプロファイル形状に優れ、微細加工に適した高解像性を有し、特に遠紫外線リソグラフィーにおいて大いに威力を発揮する。
請求項(抜粋):
下記一般式(1)で示されるオニウム塩。【化1】(式中、R1は水素原子、又は炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基を示す。R2は水素原子、炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、又はフェニル基を示す。R3は同一でも異なってもよく、炭素数1〜10の直鎖状、分岐状もしくは環状の置換もしくは非置換のアルキル基、又は炭素数6〜14の置換もしくは非置換のアリール基を示す。Mは硫黄原子又はヨウ素原子を示し、Mが硫黄原子の場合、aは3であり、Mがヨウ素原子の場合、aは2である。)
IPC (6件):
C07C309/73 ,  C07C381/12 ,  C09K 3/00 ,  G03F 7/004 503 ,  G03F 7/039 601 ,  H01L 21/027
FI (6件):
C07C309/73 ,  C07C381/12 ,  C09K 3/00 K ,  G03F 7/004 503 A ,  G03F 7/039 601 ,  H01L 21/30 502 R
引用特許:
審査官引用 (4件)
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