特許
J-GLOBAL ID:200903027384285768
平面表示装置のシミュレーション方法、シミュレーション装置、検査方法、および検査装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-284276
公開番号(公開出願番号):特開2000-111858
出願日: 1998年10月06日
公開日(公表日): 2000年04月21日
要約:
【要約】【課題】平面表示装置の開発、設計、および製造を効率良く安価に行うことを可能とするシミュレーション方法、シミュレーション装置、検査方法および検査装置を提供することにある。【解決手段】液晶表示装置の設計に基づく種々のパラメータに応じて擬似的な点欠陥を想定し、かつ、この点欠陥をリペア回路によって修正した際の擬似的な修正画素部を、他の正常画素部に対し階調差を持たせて表示することにより、点状欠陥を修正した後の液晶表示装置の表示状態をシミュレーションする。製品検査においては、実際に製造され点状欠陥が修正された液晶表示装置を駆動し、液晶表示装置の画面に実際の修正画素部と、シミュレーションによる擬似的な修正画素部とを同時に表示し、比較検査を行う。
請求項(抜粋):
多数の画素、および点状欠陥を修正するためのリペア回路を有する平面表示装置の表示状態をシミュレーションする方法において、上記リペア回路により点状欠陥を修正した場合の擬似的な修正画素部を、他の正常画素部に対して階調差を持って表示し、点状欠陥を修正した後の平面表示装置の表示状態をシミュレーションすることを特徴とするシミュレーション方法。
IPC (3件):
G02F 1/13 101
, G01R 31/00
, G06G 7/48
FI (3件):
G02F 1/13 101
, G01R 31/00
, G06G 7/48 A
Fターム (12件):
2G036AA25
, 2G036AA28
, 2G036BA33
, 2G036CA01
, 2G036CA12
, 2H088FA11
, 2H088HA04
, 2H088HA06
, 2H088HA08
, 2H088HA14
, 2H088HA18
, 2H088MA20
引用特許:
出願人引用 (5件)
-
特開平3-209422
-
特開平4-016930
-
液晶表示装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-101060
出願人:三洋電機株式会社
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審査官引用 (5件)
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特開平3-209422
-
特開平4-016930
-
液晶表示装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-101060
出願人:三洋電機株式会社
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