特許

J-GLOBAL ID：200903027445906957

溶接アーク光の影響下での動的ひずみの測定方法とその測定装置

発明者： 村松 由樹 ,  黒田 聖治
出願人/特許権者： 独立行政法人物質・材料研究機構
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-078514
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264026
出願日： 2000年03月21日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：

【要約】【課題】 溶接施工途中の被溶接物に発生する動的ひずみを、アーク光の影響下にあっても、溶融池を除く所望の個所および所望の時期に測定することができる方法と測定装置を提供する。【解決手段】 溶接アーク光の影響下にあるひずみ測定点にレーザーを照射して、乱反射したレーザーの相互干渉によって生じるスペックルパターンの変化および移動をセンサー面上で検出する動的ひずみ測定法であって、ピンホールおよび遮光筒によってアーク光を遮光し、乱反射したレーザーをセンサー面上で検出する。

請求項（抜粋）：

溶接アーク光の影響下にあるひずみ測定点にレーザーを照射して、乱反射したレーザーの相互干渉によって生じるスペックルパターンの変化および移動をセンサー面上で検出する動的ひずみ測定法であって、ピンホールおよび遮光筒によってアーク光を遮光し、乱反射したレーザーをセンサー面上で検出することを特徴とする動的ひずみ測定方法。

IPC (2件)：

G01B 11/16 ,  B23K 9/095 515

FI (2件)：

G01B 11/16 G ,  B23K 9/095 515 Z

Fターム (16件)：

2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC15 ,  2F065DD04 ,  2F065DD11 ,  2F065FF51 ,  2F065FF56 ,  2F065GG04 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065LL22 ,  2F065LL28 ,  2F065NN01

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 小型レーザセンサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-307790   出願人：三菱重工業株式会社
• 溶接部の動的ひずみ測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-205702   出願人：科学技術庁金属材料技術研究所長