特許
J-GLOBAL ID:200903027962666230
外観検査用データ作成装置および外観検査用データ作成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
岩橋 文雄
, 坂口 智康
, 内藤 浩樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-405395
公開番号(公開出願番号):特開2005-164457
出願日: 2003年12月04日
公開日(公表日): 2005年06月23日
要約:
【課題】生産効率の向上と検査精度確保のバランスがとれた最適な検査形態を実現することができる外観検査用データ作成装置および外観検査用データ作成方法を提供することを目的とする。【解決手段】半田印刷後の基板を撮像して印刷状態を検査する印刷検査に用いられる検査用データ作成において、基板上で検査対象となる検査対象位置データをグループ化し、各グループ別に検査しきい値と検査頻度を付与した実行用データを作成する。複数の基板に対して印刷検査を連続実行する過程においては、実行用データに基づいて各グループについて検査対象か否かを判断しながら、検査実行制御を行う。これにより、同一基板について検査対象物の必要度に応じて適正な検査頻度を設定することが可能となり、生産効率の向上と検査精度確保のバランスがとれた最適な検査形態を実現することができる。【選択図】図11
請求項(抜粋):
複数の検査対象物を有する基板を撮像して所定の検査を行う外観検査装置に用いられる検査用データを作成する外観検査用データ作成装置であって、前記複数の検査対象物の位置を示す検査対象位置データを提供する位置データ提供手段と、前記検査対象位置データをグループ化条件に従って個別のグループにグループ化するグループ化手段と、前記グループ毎に検査が実行される頻度を付与する検査頻度付与手段とを備えたことを特徴とする外観検査用データ作成装置。
IPC (3件):
G01N21/956
, G01B11/24
, H05K3/34
FI (3件):
G01N21/956 B
, H05K3/34 512B
, G01B11/24 K
Fターム (36件):
2F065AA56
, 2F065AA58
, 2F065BB02
, 2F065CC01
, 2F065CC26
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065MM07
, 2F065PP03
, 2F065PP12
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065QQ51
, 2F065RR05
, 2F065SS13
, 2G051AA61
, 2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051AC02
, 2G051AC04
, 2G051CA04
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA20
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 5E319AC01
, 5E319BB05
, 5E319CC22
, 5E319CC33
, 5E319CD29
, 5E319CD53
, 5E319GG03
, 5E319GG15
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (2件)
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特開昭63-012944
-
半自動はんだ検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-187252
出願人:小林茂樹
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