特許
J-GLOBAL ID:200903028152934600
構造物の遠隔検査方法及び遠隔検査装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
曾我 道照 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-348753
公開番号(公開出願番号):特開2003-149188
出願日: 2001年11月14日
公開日(公表日): 2003年05月21日
要約:
【要約】【課題】 構造物までの距離が離れている遠隔検査において精度良く欠陥を検出できる構造物の遠隔検査方法及び遠隔検査装置を提供することを課題とする。【解決手段】 低出力のレーザ104でレーザ光を走査して、高出力キセノンランプ101が加熱すべき検査対象105上の加熱領域を定める。同時に距離計108で高出力キセノンランプ101から検査対象105までの照射距離を計測し、均一に加熱するために必要な高出力キセノンランプ101のビーム照射角度、ビーム照射移動速度及びビーム照射時間の条件を決定する。制御装置107により制御された駆動装置103は、高出力キセノンランプ101のビームを走査しながら検査対象105の加熱領域にビームを当てて均一に加熱する。加熱後、検査対象105を赤外線カメラ110が撮影し、その画像データをコンピュータ106が画像処理を施して検査対象105の欠陥部分を検出する。
請求項(抜粋):
構造物を遠隔から加熱し、構造物の表面の温度分布を検出して構造物の欠陥を検査する遠隔検査方法において、加熱手段として直流放電のアーク光源を準備し、このアーク光源の光を構造物に照射して構造物を加熱することを特徴とする構造物の遠隔検査方法。
IPC (3件):
G01N 25/72
, G01N 33/38
, G01J 5/48
FI (3件):
G01N 25/72 K
, G01N 33/38
, G01J 5/48 A
Fターム (19件):
2G040AA05
, 2G040AB08
, 2G040BA14
, 2G040BA25
, 2G040CA01
, 2G040CA11
, 2G040CA23
, 2G040DA06
, 2G040DA15
, 2G040EA01
, 2G040EA06
, 2G040EA15
, 2G040HA02
, 2G040HA05
, 2G066AC09
, 2G066BC15
, 2G066BC21
, 2G066CA02
, 2G066CA04
引用特許:
出願人引用 (11件)
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特開平2-102442
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特開昭64-046638
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非接触検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-057828
出願人:ライオン株式会社
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審査官引用 (8件)
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特開平2-102442
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トンネル空洞検査車両およびトンネル空洞検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-250177
出願人:株式会社日立エンジニアリングサービス
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特開昭64-046638
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特開昭64-046638
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非接触検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-057828
出願人:ライオン株式会社
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特開平2-102442
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赤外線映像検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-335630
出願人:東北電力株式会社, 三菱重工業株式会社
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塗装膜劣化検査方法及び検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-133269
出願人:日本電信電話株式会社
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