特許
J-GLOBAL ID：200903028203879765
フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-216305
公開番号（公開出願番号）：特開2003-028845
出願日： 2001年07月17日
公開日（公表日）： 2003年01月29日
要約：
【要約】【課題】 先端の形状に拘らず欠陥20の定量化を容易に行う。【解決手段】 送信グループ13の探触子群12と受信グループ14の探触子群12とをペアに構成し、反射波19が受信された受信グループ14の探触子群12を演算処理部16で対応させて解析し、面反射エコーを用いて略垂直に存在する欠陥20の高さを正確に評価すし、先端の形状に拘らず欠陥20の定量化を容易に行う。
請求項（抜粋）：
多数の探触子をアレイ状に配設してフェーズドアレイ探触子を形成し、多数の探触子を1個もしくは複数個づつに分けた探触子群を複数組形成し、各探触子群を順次切り換えて超音波を送出し、受信手段で超音波の反射波を受信すると共に、受信された反射波に対応する超音波を送出した探触子群を特定することで、傷の高さを評価することを特徴とするフェーズドアレイによる探傷方法。
IPC (2件)：
G01N 29/26 503
, G01N 29/10
G01N 29/26 503
, G01N 29/10
2G047BA03
, 2G047BB02
, 2G047BC07
, 2G047CA01
, 2G047DB02
, 2G047EA10
, 2G047GB02
, 2G047GB16
, 2G047GF06
, 2G047GF15
, 2G047GF17
