特許
J-GLOBAL ID：200903028484733721

光学装置

発明者：
谷田貝 豊彦

谷田貝 豊彦 について

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伊藤 雅英

伊藤 雅英 について

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石渡 裕

石渡 裕 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 篠原 泰司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-088580
公開番号（公開出願番号）：特開2001-272603
出願日： 2000年03月24日
公開日（公表日）： 2001年10月05日
要約：
【要約】【課題】 被観察物体の特定の領域における位相情報を光の散乱の影響を受けることなしに再生することの出来る光学装置を提供する。【解決手段】 光源29からの光を被観察物体36に導く照明光学系30,31,32,33,34,35と、光源29からの光を被観察物体36と参照ミラー42へ分割して導くビームスプリッタ34と、被観察物体36と参照ミラー42からの光の干渉により形成された干渉像を光ディテクター40に導く結像レンズ39と、干渉像を受像する光ディテクター40と、該ディテクターからの画像情報を演算する演算装置と、被観察物体36からの光と参照ミラーからの光の相対的な位相量を変化させるステッピングモーター38及びピエゾ素子43とを備えている。得られた干渉画像から被観察物体36の光散乱係数を用いて被観察物体の位相情報の減衰を補正することにより、被観察物体36内の特定位置における位相情報を得ることが出来るようになっている。
請求項（抜粋）：
光源と、該光源からの光を被観察物体に導く照明光学系と、該照明光学系内に配置されていて前記光源からの光を被観察物体と被観察物体の干渉像を形成する為の参照物体とにそれぞれ分割して導光する部材と、被観察物体からの光と参照物体からの光の干渉により形成された干渉像を撮像素子に導く結像光学系と、干渉像を撮像する撮像素子と、該撮像素子からの画像情報を演算する演算装置と、前記照明光学系内または結像光学系内に配置されていて干渉像を形成する被観察物体からの光と参照物体からの光の相対的な位相差量を変化させる手段を有する光学装置であって、得られた干渉画像から被観察物体の光散乱係数を用いて被観察物体の位相情報の減衰を補正することにより、被観察物体内の特定の位置における位相情報を得るようにした光学装置。
IPC (5件)：
G02B 21/00 ,  G01N 21/00 ,  G01N 21/17 610 ,  G01N 21/45 ,  G02B 27/52
FI (5件)：
G02B 21/00 ,  G01N 21/00 B ,  G01N 21/17 610 ,  G01N 21/45 A ,  G02B 27/52
Fターム (26件)：
2G059AA05 ,  2G059BB16 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059PP10 ,  2H052AA05 ,  2H052AA07 ,  2H052AA08 ,  2H052AC04 ,  2H052AC05 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC27 ,  2H052AF04 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • 微分干渉顕微鏡装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-265290   出願人：オリンパス光学工業株式会社
  • 特公平6-035946
引用文献：
審査官引用 (1件)

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