特許
J-GLOBAL ID：200903028555002804
固体支持体及び該固体支持体上に複数の物質又は複合体を脱離/イオン化することにより質量分析する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
平木 祐輔
, 石井 貞次
, 藤田 節
, 藤井 愛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-057819
公開番号（公開出願番号）：特開2008-180728
出願日： 2008年03月07日
公開日（公表日）： 2008年08月07日
要約：
【課題】本発明の課題は、多数の試料を迅速に質量分析する手段を提供し、核酸及びタンパク質等の生体分子の解析を迅速に実施する方法を提供することである。【解決手段】表面にカーボン層が形成された固体支持体、及び試料中の物質をゲル電気泳動で分離後、ゲル中に分離された物質を該固体支持体上に転写し、該固体支持体上の物質を脱離/イオン化することにより複数の物質を質量分析する方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料中の物質を質量分析する方法であって、
試料中の物質をゲル電気泳動で分離する工程、
ゲル中に分離された物質をメンブレンに転写する工程、及び
該メンブレン上に転写された物質を、表面にカーボン層を有する固体支持体に転写保持する工程を含む、前記方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N27/62 B
, G01N27/26 315J
2G041DA03
, 2G041EA03
, 2G041FA11
, 2G041FA12
, 2G041JA08
