特許
J-GLOBAL ID：200903029161786199

落下試験装置

発明者：
中田 康之

中田 康之 について

, 
白石 満

白石 満 について

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須藤 嘉規

須藤 嘉規 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 平戸 哲夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-220929
公開番号（公開出願番号）：特開2000-055778
出願日： 1998年08月05日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：
【要約】【課題】落下衝突時に携帯製品などに加わる衝撃を測定する場合に使用する落下試験装置に関し、試験対象を任意の姿勢、かつ、自由落下状態ないし自由落下に近い状態で落下させ、再現性の良い落下試験を行うことができるようにする。【解決手段】試験対象30の姿勢制御を行うことができる試験対象保持部29と、試験対象30を保持した試験対象保持部29を自由落下状態ないし自由落下に近い状態で落下させることができる可動台ガイド機構19を設け、試験対象保持部29に試験対象30を保持させて落下させ、試験対象30が衝突受け板58に衝突する前に、試験対象30を試験対象保持部29から開放し、試験対象30を単独落下状態にして衝突受け板58に衝突させ、フィンガー33、34の先端部33A、34Aは衝突受け板58の切り欠き部58A、58Bを通過させる。
請求項（抜粋）：
試験対象を開放可能に保持する試験対象保持部と、前記試験対象保持部を自由落下状態ないし自由落下に近い状態で落下させることができるガイド機構とを備えていることを特徴とする落下試験装置。
IPC (2件)：
G01M 7/08 ,  G01N 3/30
FI (2件)：
G01M 7/00 H ,  G01N 3/30 H
Fターム (12件)：
2G061AA13 ,  2G061AB04 ,  2G061BA15 ,  2G061CB16 ,  2G061CC01 ,  2G061CC11 ,  2G061CC20 ,  2G061EA02 ,  2G061EA03 ,  2G061EA10 ,  2G061EB07 ,  2G061EC02
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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