特許
J-GLOBAL ID：200903029165367360

蛍光偏光度測定装置

発明者：
原田 最之

原田 最之 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-291376
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098638
出願日： 2000年09月26日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：
【要約】【課題】 高速測定を可能とし、回転速度の速い試料や蛍光寿命の短い試料の蛍光偏光度を測定できる蛍光偏光度測定装置を提供する。【解決手段】 光源1から出た光は集光ミラー2により集光され、分光器4で単色光化された後、偏光子6で直線偏光に変換される。偏光子6により直線偏光された光は、一定周波数の交流電圧を印加された光学変調子8により、互いに直交する直線偏光に変換され試料10に入射する。入射した光は試料10により一部吸収され、蛍光が発生する。試料10から発せられた蛍光は、光学フィルター15および20により、測定に必要な波長の光が取り出された後、光学変調子16および21に達する。光学変調子16、21は光学変調子8の偏光面に対して偏光面が0度ならびに90度になるように配置されている。光学変調子16、21には、光学変調子8と同じ周波数の交流電圧が印加されており、蛍光検出器17、22の検出のタイミングも同期させ、試料10より発生した蛍光のうち、光学変調子8の偏光面に対して0度ならびに90度の直線偏光を同時に測定する。
請求項（抜粋）：
光源からの光を直線偏光に変換する偏光子と、その直線偏光により励起された蛍光性分子から発生する蛍光を、励起光に対して平行および垂直な直線偏光に変換する偏光子と、直線偏光に変換された蛍光の強度を測定する検出器から構成され、光源からの光を直線偏光に変換した後、試料に照射する前段で光学変調子を用い、光学変調子に一定周波数の交流電圧を印加し、偏光面が互いに直交する直線偏光を一定周期で発生させることを特徴とする蛍光偏光度測定装置。
IPC (2件)：
G01N 21/64 ,  G02B 5/30
FI (2件)：
G01N 21/64 A ,  G02B 5/30
Fターム (19件)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043GA02 ,  2G043GB21 ,  2G043HA02 ,  2G043HA03 ,  2G043HA07 ,  2G043HA15 ,  2G043JA03 ,  2G043KA03 ,  2G043KA07 ,  2G043NA04 ,  2H049BA02 ,  2H049BB03 ,  2H049BB05 ,  2H049BC23
引用特許：
審査官引用 (6件)
  • 蛍光偏光度測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-325227   出願人：日本分光株式会社
  • 特開昭61-272637
  • 特開昭61-272637
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