特許
J-GLOBAL ID:200903029517055623

導波路型偏波状態測定器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 古谷 史旺
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-227829
公開番号(公開出願番号):特開2001-050860
出願日: 1999年08月11日
公開日(公表日): 2001年02月23日
要約:
【要約】【課題】 小型で信頼性に優れ、大量生産に適した導波路型偏波状態測定器を実現する。【解決手段】 基板上に、入力用光導波路から入力された光信号を直交する2つの偏光成分に分離して2つの出力ポートに出力する偏光分離素子と、2つの偏光成分をそれぞれ2分岐する2つの光分岐素子と、各光分岐素子のそれぞれ第2の出力ポートに分岐された2つの偏光成分を同一偏光に変換する偏光入れ替え素子と、偏光入れ替え素子で同一偏光になった2つの偏光成分を入力して干渉させる光合分岐素子とを備え、第1の光分岐素子および第2の光分岐素子の各第1の出力ポートに接続された出力用光導波路に各偏光の光強度を取り出し、光合分岐素子の出力ポートに接続された出力用光導波路に各偏光の干渉光強度を取り出し、入力光信号の偏波状態の測定に供する構成である。
請求項(抜粋):
基板上に、入力用光導波路から入力された光信号を直交する2つの偏光成分に分離して2つの出力ポートに出力する偏光分離素子と、前記偏光分離素子の2つの出力ポートに分離された2つの偏光成分をそれぞれ2分岐する2つの光分岐素子と、前記各光分岐素子のそれぞれ第2の出力ポートに分岐された2つの偏光成分を同一偏光に変換する偏光入れ替え素子と、前記偏光入れ替え素子で同一偏光になった2つの偏光成分を入力して干渉させる光合分岐素子とを備え、前記第1の光分岐素子および前記第2の光分岐素子の各第1の出力ポートに接続された出力用光導波路に各偏光の光強度を取り出し、前記光合分岐素子の出力ポートに接続された出力用光導波路に各偏光の干渉光強度を取り出し、入力光信号の偏波状態の測定に供する構成であることを特徴とする導波路型偏波状態測定器。
IPC (5件):
G01M 11/00 ,  G01J 4/04 ,  G01M 11/02 ,  G02B 6/122 ,  G02F 1/313
FI (5件):
G01M 11/00 T ,  G01J 4/04 Z ,  G01M 11/02 K ,  G02F 1/313 ,  G02B 6/12 D
Fターム (25件):
2G086EE12 ,  2H047KA04 ,  2H047KB04 ,  2H047LA12 ,  2H047MA05 ,  2H047RA01 ,  2H047TA05 ,  2H047TA11 ,  2K002AA02 ,  2K002AB01 ,  2K002AB02 ,  2K002AB04 ,  2K002AB13 ,  2K002AB40 ,  2K002BA06 ,  2K002BA13 ,  2K002CA03 ,  2K002CA15 ,  2K002DA07 ,  2K002DA08 ,  2K002EA16 ,  2K002GA10 ,  2K002HA03 ,  2K002HA05 ,  2K002HA11
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 光導波路型偏波検知装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-071751   出願人:住友金属鉱山株式会社
  • 特表平5-503999
  • 偏光度測定器
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-331772   出願人:古野電気株式会社

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