特許
J-GLOBAL ID:200903029525750926

試料分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 平木 祐輔
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-156950
公開番号(公開出願番号):特開2006-329920
出願日: 2005年05月30日
公開日(公表日): 2006年12月07日
要約:
【課題】複数の分析部を並置した試料分析装置において,隣の試料からの散乱光によるクロストークの影響を低減する。【解決手段】複数の光源13〜18それぞれを異なる変調周波数で変調し,周波数分離によって所望の信号成分のみを検出する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
それぞれ異なる波長の光を発生する複数の光源と,試料を保持する試料保持部と,前記試料保持部に保持された試料を透過した前記複数の光源からの光を検出する光検出器とを備える測定部が複数並置され, 一つの測定部に属する複数の光源及び少なくとも当該測定部に隣接する測定部に属する複数の光源は,それぞれ異なる変調周波数で変調された光を出射することを特徴とする試料分析装置。
IPC (5件):
G01N 21/27 ,  G01N 1/00 ,  G01N 35/02 ,  G01N 35/08 ,  G01N 35/10
FI (5件):
G01N21/27 Z ,  G01N1/00 101F ,  G01N35/02 A ,  G01N35/08 B ,  G01N35/06 A
Fターム (25件):
2G052AD46 ,  2G052CA04 ,  2G052CA07 ,  2G052GA11 ,  2G058CC05 ,  2G058CC17 ,  2G058DA07 ,  2G058EA02 ,  2G058EA14 ,  2G058GA06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG06 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059LL04 ,  2G059MM09
引用特許:
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (7件)
全件表示

前のページに戻る