光ファイバ凹凸検出方法及び検出器

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西村教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-037072
公開番号（公開出願番号）：特開平8-233563
出願日： 1995年02月24日
公開日（公表日）： 1996年09月13日
要約：

【要約】【目的】光ファイバの凹凸をゴミ等の影響を受けずに精度よく検出でき、また、光ファイバの外径及び軸位置を検出でき、該光ファイバが軸方向と直交する方向に振れたり、軸方向に高速に移動しても精度良く凹凸を検出できること。【構成】レーザ光源3のレーザ光5は光偏向器6で偏向され光ファイバ1を往復走査して受光素子7に入射する。エッジ位置検出手段8a,8bは、光ファイバ1によって生じる受光レベルの変化で両側縁のエッジ位置をそれぞれ検出し、両エッジ位置に基づき外径算出手段9は光ファイバ1の外径を算出し、中心位置算出手段15は中心位置を算出する。判定処理手段13は外径信号の変化に基づき凹凸1aを検出出力する。

請求項（抜粋）：

光ファイバ製造時に生じる表面の凹凸を検出する光ファイバ凹凸検出方法において、軸方向に所定速度(v)で移動する光ファイバ(1)に対し該光ファイバの両縁を横切るように所定のスポット径(w)及び振動周波数(f)でレーザ光(5)を往復走査し、該レーザ光が照射された光ファイバで生じた影により該光ファイバの両側縁のエッジ位置をそれぞれ検出した後、該両エッジ位置の変化に基づき前記凹凸を検出することを特徴とする光ファイバ凹凸検出方法。

IPC (2件)：

G01B 11/30 , G02B 6/00

FI (2件)：

G01B 11/30 Z , G02B 6/00 A

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開昭59-203904
特開昭62-069108
特開昭62-245104

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