特許
J-GLOBAL ID：200903029788663475

撮像装置

発明者：
足立 晋

足立 晋 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 杉谷 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-312282
公開番号（公開出願番号）：特開2006-128890
出願日： 2004年10月27日
公開日（公表日）： 2006年05月18日
要約：
【課題】 検出器の温度状況がわかる、あるいは検出器の温度を制御することができる撮像装置を提供することを目的とする。【解決手段】 撮像装置としてX線透視撮影装置は、フラットパネル型X線検出器(FPD)3の温度を測定する温度センサ14を備えている。この温度センサ14を備えることで、FPD3の温度状況がわかることができる。また、温度センサ14によって測定された温度データ(温度データ131)を表示するモニタ13を備えることで、モニタ13によってFPD3の温度状況がより一層わかりやすくなる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光または放射線の入射により前記光または放射線の情報を電荷情報に変換し、その変換された電荷情報を読み出すことで光または放射線を検出する光または放射線検出器を備え、光または放射線検出器から検出された電荷情報に基づいて画像を得る撮像装置であって、前記検出器の温度を測定する温度測定手段を備えることを特徴とする撮像装置。
IPC (7件)：
H04N 5/335 ,  G01T 1/24 ,  H04N 5/225 ,  H04N 5/32 ,  H01L 27/14 ,  H01L 27/146 ,  H01L 31/09
FI (7件)：
H04N5/335 Z ,  G01T1/24 ,  H04N5/225 C ,  H04N5/32 ,  H01L27/14 K ,  H01L27/14 C ,  H01L31/00 A
Fターム (44件)：
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ35 ,  2G088MM05 ,  2G088MM09 ,  4M118AA08 ,  4M118AB01 ,  4M118BA05 ,  4M118CA02 ,  4M118CB05 ,  4M118FB03 ,  4M118FB09 ,  4M118FB13 ,  4M118FB16 ,  4M118FB19 ,  4M118FB23 ,  4M118FB25 ,  4M118GA10 ,  4M118HA35 ,  4M118HA36 ,  5C024AX12 ,  5C024CY50 ,  5C024DX04 ,  5C024EX15 ,  5C024GX02 ,  5C122DA17 ,  5C122DA25 ,  5C122EA03 ,  5C122FK08 ,  5C122FK19 ,  5C122FK28 ,  5C122FK35 ,  5C122GF04 ,  5F088AB05 ,  5F088BA10 ,  5F088BA13 ,  5F088BB07 ,  5F088EA04 ,  5F088HA20 ,  5F088KA08 ,  5F088LA08
引用特許：
審査官引用 (4件)
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