特許

J-GLOBAL ID：200903029825852348

被対象物を透過した電磁波の状態を検出するための検出装置

発明者： 笠井 信太郎 ,  尾内 敏彦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-376370
公開番号（公開出願番号）：特開2006-184078
出願日： 2004年12月27日
公開日（公表日）： 2006年07月13日
要約：

【課題】 従来の検出装置では空間光学系を用いているため、システムの小型化が困難であり、また光学調整が困難であった。【解決手段】 そこで、本発明は、被対象物を透過した電磁波の状態を検出するための検出装置であって、電磁波を発生するための発生手段と、前記電磁波を伝送するための伝送路と、前記電磁波を検出するための検出手段とを備え、前記伝送路中で前記電磁波が分布する領域の一部に通路を有し、前記発生手段により発生した電磁波が、前記通路中の被測定対象物を透過し、前記検出手段により前記電磁波の状態を検出する検出装置を提供するものである。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被対象物を透過した電磁波の状態を検出するための検出装置であって、 電磁波を発生するための発生手段と、 前記電磁波を伝送するための伝送路と、 前記電磁波を検出するための検出手段とを備え、 前記伝送路中で前記電磁波が分布する領域の一部に通路を有し、 前記発生手段により発生した電磁波が、前記通路中の被測定対象物を透過し、前記検出手段により前記電磁波の状態を検出することを特徴とする検出装置。

IPC (2件)：

G01N 21/35 ,  G01N 22/00

FI (3件)：

G01N21/35 Z ,  G01N22/00 K ,  G01N22/00 X

Fターム (15件)：

2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01

引用特許：

審査官引用 (3件)

• マイクロチップ、マイクロチップの製造方法および成分検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-226681   出願人：日本電気株式会社
• テラヘルツ波透過用光学部品、テラヘルツ波光学系、テラヘルツ帯波処理装置および同方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-107885   出願人：有限会社パックス
• 管状バイオ検知システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-246644   出願人：株式会社東芝

引用文献：

審査官引用 (3件)

• “Charge Transport and Carrier Dynamics in Liquids Probed by THz Time-Domain Spectroscopy”
• “Waveguide terahertz time-domain spectroscopy of nanometer water layers”
• “フォトニックフラクタルを用いたテラヘルツ電磁波制御の研究”