構築面の質を判定する装置及びその方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：志賀正武 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-059648
公開番号（公開出願番号）：特開2000-329707
出願日： 2000年03月03日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
要約：

【要約】【課題】構築面の質の再現可能な評価を可能にする装置を提供することである。【解決手段】少なくとも一つの光源を備えた第1の光学手段と、測定面から反射された光を受ける測定面に対して所定の角度で配置した第2の光学手段と、測定シーケンスを制御するために備えられ、少なくとも一つのプロセッサー手段と少なくとも一つのメモリ手段とを備えた評価手段と、出力手段とを備え、第1の光学手段からの放射光が測定面の一部である測定面上で所定の角度に方向付けられており、第2の光学手段が少なくとも一つの感光面を有する少なくとも一つのフォトセンサーを備え、少なくとも一つのフォトセンサーが反射光に特徴的な電気測定信号を発し、第1の光学手段と第2の光学手段とが反射光が測定面の構造に影響されるように配置され、評価手段が反射光を評価し、面の少なくとも一つの構造付随特性を表す少なくとも一つの構造変数を導出することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

少なくとも一つの光源を備えた第1の光学手段と、測定面から反射された光を受ける前記測定面に対して所定の角度で配置した第2の光学手段と、測定プロセスシーケンスを制御するために備えられ、少なくとも一つのプロセッサー手段と少なくとも一つのメモリ手段とを備えた評価手段と、出力手段と、を備え、前記第1の光学手段から放射された光が測定される面の一部である測定面上で所定の角度に方向付けられており、前記第2の光学手段が少なくとも一つの感光面を有する少なくとも一つのフォトセンサーを備え、少なくとも一つのフォトセンサーが反射光に特徴的な電気測定信号を発するものであり、前記第1の光学手段と前記第2の光学手段とが、前記反射光が前記測定面の構造に影響されるように配置されており、前記評価手段が前記反射光を評価し、かつ前記面の少なくとも一つの構造付随特性を表す少なくとも一つの構造変数を導出する、構築面の質を定量的に判定する装置。

IPC (11件)：

G01N 21/95 , G01B 7/06 , G01B 11/255 , G01B 11/30 , G01B 17/02 , G01J 3/50 , G01N 21/27 , G01N 21/57 , G01N 27/72 , G01N 27/90 , G01N 29/00 501

FI (11件)：

G01N 21/95 Z , G01B 11/30 A , G01B 17/02 Z , G01J 3/50 , G01N 21/27 A , G01N 21/57 , G01N 27/72 , G01N 27/90 , G01N 29/00 501 , G01B 7/10 Z , G01B 11/24 M

引用特許：

審査官引用 (5件)

塗面の艶測定方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-192877 出願人：関東自動車工業株式会社, トヨタ自動車株式会社
特開昭61-217708
表面欠陥検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-189132 出願人：スズキ株式会社

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