特許
J-GLOBAL ID：200903030033602091
測定装置および測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
龍華 明裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-021660
公開番号（公開出願番号）：特開2008-185552
出願日： 2007年01月31日
公開日（公表日）： 2008年08月14日
要約：
【課題】テラヘルツ波を透過させて、読み取り易い被測定物210の周波数特性を得る。【解決手段】導体により包囲された空隙112をひとつの平面上に有する空隙配置構造体110と、空隙配置構造体110の平面上に保持された被測定物210に向かって電磁波を照射する電磁波照射部310と、電磁波照射部310から空隙配置構造体110に向かって投射され、空隙配置構造体110を透過した電磁波を測定する電磁波検出部320とを備え、空隙112および被測定物210を含む空間を透過した電磁波を測定することにより被測定物210の特性を測定する測定装置300であって、電磁波照射部310から空隙配置構造体110に向かって投射される電磁波が、空隙112を含む平面に対して傾斜した入射角αを有して、測定値の周波数特性に生じるディップ波形の変移により被測定物210の特性を検出する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
平面上に導体により包囲された空隙領域を有する空隙配置構造体と、
前記空隙配置構造体の前記平面上に保持された被測定物に向かって電磁波を照射する電磁波照射部と、
前記電磁波照射部から前記空隙配置構造体に向かって投射され、前記空隙配置構造体を透過した電磁波を測定する電磁波検出部と
を備え、前記空隙領域および被測定物を含む空間を透過した電磁波を測定することにより前記被測定物の特性を測定する測定装置であって、
前記電磁波照射部から前記空隙配置構造体に向かって投射される電磁波が、前記空隙領域を含む平面に対して傾斜して入射され、前記傾斜により測定値の周波数特性に生じたディップ波形の位置が、被測定物の存在により移動することに基づいて前記被測定物の特性を検出する測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (19件)：
2G059AA01
, 2G059BB06
, 2G059BB09
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059FF08
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059JJ01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ18
, 2G059KK01
, 2G059MM04
, 2G059PP04
