特許
J-GLOBAL ID:200903058437486089
一体型構造体、測定装置、方法およびプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
細田 益稔
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-188839
公開番号(公開出願番号):特開2007-010366
出願日: 2005年06月28日
公開日(公表日): 2007年01月18日
要約:
【課題】 電磁波が照射されることによって測定される被測定物を有利に取り扱う。【解決手段】 XY平面において導体板10の導体で囲まれた空隙部(開口)12がX方向およびY方向に配列された格子1の空隙部12の内部に、電磁波を照射することにより特性が測定される被測定物20が配置(充填)されている充填格子2。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
電磁波を照射することにより特性が測定される被測定物と、
所定の平面において導体で囲まれた空隙部が配置された空隙配置構造体と、
を備えた一体型構造体。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N21/35 Z
, G01N21/41 Z
Fターム (16件):
2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE01
, 2G059EE04
, 2G059GG03
, 2G059GG06
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059MM10
, 2G059PP04
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (8件)
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