特許
J-GLOBAL ID:200903030145316156

超微量物質の計測方法及び計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-265201
公開番号(公開出願番号):特開2001-091464
出願日: 1999年09月20日
公開日(公表日): 2001年04月06日
要約:
【要約】【課題】レーザを用いて選択的に超微量物質を計測することによりリアルタイム計測が可能で、1検体当りの分析費用が安価にすることにある。【解決手段】検出すべき超微量物質を含んだ試料をガス状に吹出させ、この超微量物質を含んだガスにレーザ光を照射して前記超微量物質から蛍光を放出させるか、又は超微量物質をイオン化し、その蛍光又は超微量物質イオンを検出して、その検出レベルにより超微量物質の濃度を計測する。
請求項(抜粋):
検出すべき超微量物質を含んだ試料をガス状に吹出させ、この超微量物質を含んだガスにレーザ光を照射して前記超微量物質をイオン化し、この超微量物質イオンを検出して、その検出レベルにより超微量物質の濃度を計測することを特徴とする超微量物質の計測方法。
IPC (2件):
G01N 21/64 ,  G01N 27/64
FI (2件):
G01N 21/64 Z ,  G01N 27/64 B
Fターム (14件):
2G043AA01 ,  2G043CA01 ,  2G043EA01 ,  2G043EA10 ,  2G043FA06 ,  2G043GA07 ,  2G043GA19 ,  2G043GB07 ,  2G043GB08 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA09 ,  2G043NA04
引用特許:
審査官引用 (5件)
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