特許

J-GLOBAL ID：200903030326768709

イメージング装置のスライス厚さを修正する方法および装置

発明者： ロバート・フランクリン・ゼンツィヒ ,  ジアング・シー
出願人/特許権者： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
代理人 (1件)： 生沼 徳二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-339220
公開番号（公開出願番号）：特開平10-272131
出願日： 1997年12月10日
公開日（公表日）： 1998年10月13日
要約：

【要約】【課題】 CT装置で、螺旋走査の間、走査を中断せずにスライス厚さを修正する。【解決手段】 走査対象内の隣接した異なる領域(82,84)を確認し、それらの一部分及び界面(86)を移行領域(88)を確認し、走査の間、スライス厚さを修正して、移行領域では冗長なデータが得られるようにする。特に1実施態様では、可変コリメータ(72)を使って、第1の領域を第1のスライス厚さで走査する。テーブルの進行を中断せずに、2つの隣接した領域の間の界面で、可変コリメータを回転させて、第2の領域を第2のスライス厚さで走査する。スライス厚さを変える時、第2のスライス厚さを持つX線ビーム(80)が、移行領域内にある第1の領域の一部分を再走査するようにコリメータを掃引する。更に具体的に云うと、移行領域が両方のスライス厚さで走査されるように、コリメータを掃引する。

請求項（抜粋）：

関心のある対象の螺旋走査の際、イメージング装置のスライス厚さを修正する方法に於いて、第1のスライス厚さを用いて関心のある対象を走査するステップと、走査を中断せずに、前記第1のスライス厚さを第2のスライス厚さに修正するステップとを含んでいることを特徴とするスライス厚さ修正方法。

IPC (2件)：

A61B 6/03 331 ,  A61B 6/03 321

FI (2件)：

A61B 6/03 331 ,  A61B 6/03 321 N

引用特許：

審査官引用 (3件)

• CT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-208638   出願人：株式会社東芝
• X線CT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-178605   出願人：株式会社東芝
• CT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-027653   出願人：株式会社東芝, 東芝メディカルエンジニアリング株式会社