特許
J-GLOBAL ID：200903030562632850

測定装置

発明者：
日下 美智哉

日下 美智哉 について


出願人/特許権者：
エスペック株式会社

エスペック株式会社 について


代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-045027
公開番号（公開出願番号）：特開2004-251856
出願日： 2003年02月21日
公開日（公表日）： 2004年09月09日
要約：
【課題】電子部品などのサンプル12からのアナログ入力データをアナログ/デジタル変換器18にてデジタルデータに変換し、測定を行う測定装置11において、前記サンプル12の高速な挙動を、低コストに検出する。【解決手段】前記アナログ/デジタル変換器18の前段側に、前記アナログ入力データのピーク値を検出し、保持するピークホールド回路15,16および読出し用サンプルホールド回路17を介在する。したがって、A/D変換器18のサンプリングタイミング間で、電子部品の短絡などのように、アナログ入力データが瞬時に変化し、復帰するような変化が生じても、その変化を検出し、保持することができ、こうしてA/D変換器18のサンプリング速度を上回る高速な挙動を検出することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
アナログ入力データをアナログ/デジタル変換器にてデジタルデータに変換し、そのデジタルデータを用いて測定を行う装置において、 前記アナログ/デジタル変換器の前段側に、前記アナログ入力データのピーク値を検出して保持するピークホールド手段を介在することを特徴とする測定装置。
IPC (3件)：
G01R31/00 ,  G01R31/26 ,  G01R31/30
FI (3件)：
G01R31/00 ,  G01R31/26 H ,  G01R31/30
Fターム (22件)：
2G003AA07 ,  2G003AC02 ,  2G003AD01 ,  2G003AD09 ,  2G003AF06 ,  2G003AH02 ,  2G036AA01 ,  2G036AA19 ,  2G036AA25 ,  2G036AA27 ,  2G036CA10 ,  2G132AA00 ,  2G132AB06 ,  2G132AB12 ,  2G132AE08 ,  2G132AE14 ,  2G132AE18 ,  2G132AE22 ,  2G132AG09 ,  2G132AH01 ,  2G132AL09 ,  2G132AL31
引用特許：
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM