特許
J-GLOBAL ID：200903030626151479
導光体輝度パターン測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
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公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-402452
公開番号（公開出願番号）：特開2003-172667
出願日： 2001年12月05日
公開日（公表日）： 2003年06月20日
要約：
【要約】【課題】 データ数を多く必要とするような精密なグラデーションパターンを容易に設計することができるような、導光体の輝度分布のデータを容易に得ることができる導光体輝度パターン測定装置を提供すること。【解決手段】本発明は、光源と、導光体が前記光源に隣接して配置される際に前記光源から入射され前記導光体中を伝播する光が前記導光体から放射されて生じる前記導光体の輝度をそれぞれ検出する複数の輝度検出手段と、前記光源、前記導光体、及び、前記輝度検出手段の検出面を包囲し外部からの光から隔絶する暗箱手段とを備え、前記複数の輝度検出手段は互いの位置関係が既知であることを特徴とする導光体輝度パターン測定装置を提供する。
請求項（抜粋）：
光源と、導光体が前記光源に隣接して配置される際に前記光源から入射され前記導光体中を伝播する光が前記導光体から放射されて生じる前記導光体の輝度をそれぞれ検出する複数の輝度検出手段と、前記光源、前記導光体、及び、前記輝度検出手段の検出面を包囲し外部からの光から隔絶する暗箱手段とを備え、前記複数の輝度検出手段は互いの位置関係が既知であることを特徴とする導光体輝度パターン測定装置。
IPC (2件)：
G01M 11/00
, G02F 1/13357
G01M 11/00 T
, G02F 1/13357
2G086EE10
, 2G086EE12
, 2H091FA23Z
, 2H091FA41Z
, 2H091FC30
, 2H091LA30
