特許
J-GLOBAL ID:200903030666047054
反応現像画像形成法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
下田 昭
, 赤尾 謙一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-375137
公開番号(公開出願番号):特開2005-140878
出願日: 2003年11月05日
公開日(公表日): 2005年06月02日
要約:
【課題】 側鎖にカルボニル基を有するポリマーを用い、これを現像液に可溶にすることによりフォトレジストを形成する新規な「反応現像画像形成法」を提供する。 【解決手段】 本発明は、基板上に側鎖にカルボニル基を有するポリマー及び光酸発生剤から成るフォトレジスト層を設け、所望のパターンでマスクする段階、このパターン面に紫外線を照射する段階、該フォトレジスト層を下式 MO-R-X(式中、Mはアルカリ金属又はアルカリ土類金属、Rはアルキレン基、Xは1級アミノ基、2級アミノ基又は3級アミノ基を表す。)で表される金属アルコキシドを含む第1現像液で処理する第1現像段階、及びその後このフォトレジスト層を酸を含む第2現像液で処理する第2現像段階から成る反応現像画像形成法である。 【選択図】 なし
請求項(抜粋):
基板上に側鎖にカルボニル基を有するポリマー及び光酸発生剤から成るフォトレジスト層を設け、所望のパターンでマスクする段階、このパターン面に紫外線を照射する段階、該フォトレジスト層を下式
MO-R-X
(式中、Mはアルカリ金属又はアルカリ土類金属、Rはアルキレン基、Xは1級アミノ基、2級アミノ基又は3級アミノ基を表す。)で表される金属アルコキシドを含む第1現像液で処理する第1現像段階、及びその後このフォトレジスト層を酸を含む第2現像液で処理する第2現像段階から成る反応現像画像形成法。
IPC (4件):
G03F7/32
, G03F7/032
, G03F7/38
, H01L21/027
FI (4件):
G03F7/32
, G03F7/032
, G03F7/38 511
, H01L21/30 502R
Fターム (15件):
2H025AA02
, 2H025AB15
, 2H025AB16
, 2H025AC01
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025CB10
, 2H025CB41
, 2H025FA16
, 2H096AA25
, 2H096AA26
, 2H096BA09
, 2H096GA10
, 2H096GA15
, 2H096GA60
引用特許: