特許
J-GLOBAL ID:200903031816153369
RESURトランジスタを含む半導体部品及びその製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
桑垣 衛
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-549971
公開番号(公開出願番号):特表2006-505136
出願日: 2003年09月23日
公開日(公表日): 2006年02月09日
要約:
半導体部品はRESURFトランジスタ(100,200,300,400,500)を備え、RESURFトランジスタは、第1の導電型の第1半導体領域(110,210,310,410,510)と、第1半導体領域の上方に位置する第2の導電型の電気的浮遊半導体領域(115,215,315,415,515,545)と、を含む。RESURFトランジスタは更に、電気的浮遊半導体領域の上方に位置する第1の導電型の第2半導体領域(120,220,320,420,520)と、第2半導体領域の上方に位置する第1の導電型の第3半導体領域(130,230)と、そして第2半導体領域の上方に位置する第2の導電型の第4半導体領域(140,240,340,440,540)と、を含む。特定の実施形態では、第4半導体領域及び電気的浮遊半導体領域は、逆バイアスが第3半導体領域と第4半導体領域との間に印加されると第2半導体領域を空乏化する。
請求項(抜粋):
RESURFトランジスタ(100,200)を備える半導体部品であって、
RESURFトランジスタ(100,200)は、
第1の導電型を有する第1半導体領域(110,210)と、
第2の導電型を有し、かつ第1半導体領域の上方に位置する第1電気的浮遊半導体領域(115,215)と、
第1の導電型を有し、かつ第1電気的浮遊半導体領域の上方に位置する第2半導体領域(120,220)と、
第1の導電型を有し、かつ第2半導体領域の上方に位置する第3半導体領域(130,230)と、
第2の導電型を有し、かつ第2半導体領域の上方に位置する第4半導体領域(140,240)とを含み、
第4半導体領域及び第1電気的浮遊半導体領域は、逆バイアスが第3半導体領域と第4半導体領域との間に印加されると、第2半導体領域を空乏化する、半導体部品。
IPC (3件):
H01L 29/78
, H01L 27/088
, H01L 21/823
FI (3件):
H01L29/78 301D
, H01L27/08 102A
, H01L29/78 301X
Fターム (25件):
5F048AA05
, 5F048AC06
, 5F048BA02
, 5F048BA06
, 5F048BA12
, 5F048BB20
, 5F048BC03
, 5F048BC07
, 5F048BD01
, 5F048BD04
, 5F048BE09
, 5F048BH03
, 5F140AA18
, 5F140AA25
, 5F140AB01
, 5F140AC21
, 5F140BA16
, 5F140BB13
, 5F140BD19
, 5F140BF44
, 5F140BH30
, 5F140BH43
, 5F140BH47
, 5F140BH50
, 5F140CD02
引用特許:
審査官引用 (1件)
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-353945
出願人:三菱電機株式会社
引用文献:
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