特許
J-GLOBAL ID:200903031852601700

試料調整法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西澤 利夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-118633
公開番号(公開出願番号):特開2001-305030
出願日: 2000年04月19日
公開日(公表日): 2001年10月31日
要約:
【要約】【課題】 蛍光信号を短時間、且つ高感度で計測することができ、二重共鳴吸収顕微鏡の超解像性を十分に引き出して実用性をより向上させることのできる、新しい試料調整法を提供する。【解決手段】 二重共鳴吸収顕微鏡における試料を調整する方法であって、試料を量子ドットにより染色する。
請求項(抜粋):
二重共鳴吸収顕微鏡における試料を調整する方法であって、試料を量子ドットにより染色することを特徴とする試料調整法。
IPC (4件):
G01N 1/30 ,  G01N 21/64 ,  G02B 21/00 ,  G01N 33/48
FI (5件):
G01N 1/30 ,  G01N 21/64 F ,  G01N 21/64 E ,  G02B 21/00 ,  G01N 33/48 P
Fターム (20件):
2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043CA06 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB21 ,  2G043LA01 ,  2G043NA13 ,  2G045AA24 ,  2G045BA14 ,  2G045BB25 ,  2G045FA16 ,  2G045FB12 ,  2G045GC15 ,  2H052AA00 ,  2H052AA09 ,  2H052AC34 ,  2H052AF02
引用特許:
審査官引用 (2件)
引用文献:
審査官引用 (1件)

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