特許
J-GLOBAL ID:200903032203330191

超微粒子分級装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 蔵合 正博 ,  蔵合 正博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-091902
公開番号(公開出願番号):特開2001-276661
出願日: 2000年03月29日
公開日(公表日): 2001年10月09日
要約:
【要約】【課題】 円盤型超微粒子分級装置において、nmレベルの超微粒子を良好な分解能で分級することを目的とする。【解決手段】 従来の動的移動度(重力)を利用した円盤型微粒子分級装置を、電気移動度を利用した超微粒子分級装置に改良した。さらに分級領域を1段から多段に改良した。分級領域の段数の増加につれて分級分解能が向上するように、印加直流電圧、シースガスの種類と流量、キャリアガス流量を各分級領域ごとに設定可能とした。
請求項(抜粋):
間隔を開けて平行に配置された2つの同軸のディスク間に形成される空間を分級領域とし、前記分級領域において荷電超微粒子を粘性流体中で静電界が印加された際の荷電粒子の粒径に依存した電気移動度を利用して分級し、前記同軸のディスクを3つ以上配置することにより前記分級領域が2つ以上の多段で構成される超微粒子分級装置。
IPC (3件):
B03C 7/02 ,  B07B 4/02 ,  B07B 7/00
FI (3件):
B03C 7/02 Z ,  B07B 4/02 ,  B07B 7/00 Z
Fターム (14件):
4D021FA02 ,  4D021FA11 ,  4D021FA30 ,  4D021GA07 ,  4D021GA11 ,  4D021GA16 ,  4D021GA21 ,  4D021HA10 ,  4D054GA02 ,  4D054GA08 ,  4D054GA10 ,  4D054GB06 ,  4D054GB08 ,  4D054GB10
引用特許:
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る